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1. (WO2009141852) QUADRUPOLE MASS ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/141852    International Application No.:    PCT/JP2008/001282
Publication Date: 26.11.2009 International Filing Date: 22.05.2008
IPC:
H01J 49/42 (2006.01)
Applicants: Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto, 6048511 (JP) (For All Designated States Except US).
MUKAIBATAKE, Kazuo [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: MUKAIBATAKE, Kazuo; (JP)
Agent: KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto, 6008091 (JP)
Priority Data:
Title (EN) QUADRUPOLE MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR À MASSE QUADRUPOLAIRE
(JA) 四重極型質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)When the scanning rate of mass scanning is set to be high, the amount of variation of an applied voltage between the time of the incidence of one ion on a quadrupole mass filter and the time of the emission of the ion therefrom is set to be large, the condition of the passage of the ion is changed, and consequently the amount of the ion is reduced and detection sensitivity is deteriorated. In order to avoid this, the values of voltages (U, V) are determined so that a voltage ratio (U/V) of a direct-current voltage (U) to the amplitude (V) of a high frequency voltage applied to a rod electrode at the time of mass scanning is set to be smaller as the scanning rate is larger. Consequently, in a stable region view based on a Mathieu equation, the inclination of a line (L) showing the variation of the applied voltage at the time of mass scanning is set to be gradual and the amount of the ion passing through the quadrupole mass filter is increased when the mass is high, in particular.
(FR)La présente invention concerne un analyseur à masse quadrupolaire. Lorsque la vitesse de balayage de masse est réglée de manière à être élevée, la quantité de variation d’une tension appliquée entre l’instant de l’incidence d’un ion sur un filtre à masse quadrupolaire et l’instant de l’émission de l’ion à partir de celui-ci est réglée pour être importante, la condition du passage de l’ion est modifiée, et par conséquent la quantité de l’ion est réduite et la sensibilité de détection est détériorée. Pour éviter ceci, les valeurs de tensions (U, V) sont déterminées de sorte qu’un rapport de tension (U/V) d’une tension directe (U) par rapport à l’amplitude (V) d’une tension haute fréquence appliquée sur une électrode à tige à l’instant de balayage de masse soit réglé de manière à être inférieur alors que la vitesse de balayage est plus importante. Par conséquent, dans une vue de région stable fondée sur une équation de Mathieu, l’inclination d’une ligne (L) qui représente la variation de la tension appliquée à l’instant de balayage de masse est réglée pour être progressive et la quantité de l’ion qui passe à travers le filtre à masse quadrupolaire est augmentée lorsque la masse est élevée, en particulier.
(JA) 質量走査の走査速度を大きくすると、或るイオンが四重極質量フィルタに入射するときと出射するときとでの印加電圧の変化量が大きくなり、イオンの通過条件が変化することでイオン量が減少して検出感度が低下する。本発明はこれを回避するために、質量走査の際にロッド電極に印加する直流電圧Uと高周波電圧の振幅Vとの電圧比U/Vを、走査速度が大きいほど小さくするように、各電圧U、Vの値をそれぞれ決める。これにより、マチウ方程式に基づく安定領域図において、質量走査の際の印加電圧変化を示す線Lの傾きが緩くなり、特に高い質量において四重極質量フィルタを通過するイオンの量が増加する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)