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1. (WO2009139432) MAGNETIC FLAW DETECTING METHOD AND MAGNETIC FLAW DETECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/139432    International Application No.:    PCT/JP2009/058969
Publication Date: 19.11.2009 International Filing Date: 14.05.2009
IPC:
G01N 27/90 (2006.01)
Applicants: Sumitomo Metal Industries, Ltd. [JP/JP]; 5-33, Kitahama 4-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP) (For All Designated States Except US).
SUZUMA, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
IMANISHI, Kenji [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SUZUMA, Toshiyuki; (JP).
IMANISHI, Kenji; (JP)
Agent: OHNAKA, Minoru; (JP)
Priority Data:
2008-128523 15.05.2008 JP
Title (EN) MAGNETIC FLAW DETECTING METHOD AND MAGNETIC FLAW DETECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUTS MAGNÉTIQUES ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUTS MAGNÉTIQUES
(JA) 磁気探傷方法及び磁気探傷装置
Abstract: front page image
(EN)A magnetic flaw detection device (100) is provided with a magnetizing means (1) which causes a rotating magnetic field to act on a material to be inspected, a detection means (2) which detects flaw detection signals, and a signal processing means (3) which subjects the flaw detection signals to signal processing.  The magnetizing means supplies alternate currents, as exciting currents, obtained by superimposing a first current and a second current of a lower frequency than the first current.  The signal processing means is provided with a first synchronous detection means (31) which synchronously detects the flaw detection signals with the first current as a reference signal, a second synchronous detection means (32) which synchronously detects outputted signals from the first synchronous detection means with the second current as a reference signal and extracts flaw candidate signals, and a flaw detection image display means (34) which displays flaw detection images wherein respective pixels have densities according to the intensities of the flaw candidate signals at the respective sections of the material to be inspected, so that the phases of the flaw candidate signals at the respective sections can be identified.
(FR)L’invention concerne un dispositif (100) de détection de défauts magnétiques comprenant un moyen magnétisant (1) qui induit l’action d’un champ magnétique rotatif sur un matériau à inspecter, un moyen (2) de détection qui détecte des signaux de détection de défaut, et un moyen (3) de traitement des signaux qui soumet les signaux de détection de défaut à un traitement de signal. Le moyen magnétisant fournit des courants alternatifs, en tant que courants d’excitation, obtenus par la superposition d’un premier courant et d’un second courant dont la fréquence est inférieure à celle du premier courant. Le moyen de traitement des signaux comprend un premier moyen (31) de détection synchrone qui détecte de manière synchrone les signaux de détection de défaut en prenant le premier courant comme signal de référence, un second moyen (32) de détection synchrone qui détecte de manière synchrone les signaux sortant du premier moyen de détection synchrone en prenant le second courant comme signal de référence et extrait les signaux candidats de défaut, et un moyen (34) d’affichage d’images de détection de défaut qui affiche des images de détection de défaut sur lesquelles les densités des pixels respectifs sont fonctions des intensités des signaux candidats de défaut au niveau des sections respectives du matériau à inspecter, de sorte que les phases des signaux candidats de défaut au niveau des sections respectives peuvent être identifiées.
(JA) 磁気探傷装置100は、被検査材に回転磁界を作用させる磁化手段1と、探傷信号を検出する検出手段2と、探傷信号に信号処理を施す信号処理手段3とを備える。磁化手段は、第1電流と第1電流よりも周波数の低い第2電流とを重畳した交流電流を励磁電流として通電する。信号処理手段は、探傷信号を第1電流を参照信号として同期検波する第1同期検波手段31と、第1同期検波手段の出力信号を第2電流を参照信号として同期検波してきず候補信号を抽出する第2同期検波手段32と、各画素が被検査材の各部位におけるきず候補信号の強度に応じた濃度を有し、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像を表示する探傷画像表示手段34とを具備する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)