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1. (WO2009137122) METHODS, DEVICES AND KITS FOR PERI-CRITICAL REFLECTANCE SPECTROSCOPY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/137122    International Application No.:    PCT/US2009/032706
Publication Date: 12.11.2009 International Filing Date: 30.01.2009
IPC:
G01N 21/25 (2006.01), G01N 21/43 (2006.01), G01N 21/62 (2006.01)
Applicants: RARE LIGHT, INC. [US/US]; 1209 Orange Street Wilmington, DE 19801-1120 (US) (For All Designated States Except US).
MESSERSCHMIDT, Robert, G. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: MESSERSCHMIDT, Robert, G.; (US)
Agent: SCHWEGMAN, LUNDBERG & WOESSNER, P.A.; P.O. Box 2938 Minneapolis, MN 55402 (US)
Priority Data:
61/025,737 01.02.2008 US
Title (EN) METHODS, DEVICES AND KITS FOR PERI-CRITICAL REFLECTANCE SPECTROSCOPY
(FR) PROCÉDÉS, DISPOSITIFS ET COFFRETS POUR SPECTROSCOPIE PAR FACTEUR DE RÉFLEXION PÉRI-CRITIQUE
Abstract: front page image
(EN)Spectroscopy apparatuses oriented to the critical angle of the sample are described that detecting the spectral characteristics of a sample wherein the apparatus consists of an electromagnetic radiation source adapted to excite a sample with electromagnetic radiation introduced to the sample at an angle of incidence at or near a critical angle of the sample; a transmitting crystal in communication with the electromagnetic radiation source and the sample, the transmitting crystal having a high refractive index adapted to reflect the electromagnetic radiation internally; a reflector adapted to introduce the electromagnetic radiation to the sample at or near an angle of incidence near the critical angle between the transmitting crystal and sample; and a detector for detecting the electromagnetic radiation from the sample. Also, provided herein are methods, systems, and kits incorporating the peri-critical reflectance spectroscopy apparatus.
(FR)L'invention porte sur des appareils de spectroscopie orientés à l'angle critique de l'échantillon, lesquels appareils de spectroscopie détectent les caractéristiques spectrales d'un échantillon. Selon l'invention, l'appareil est constitué d’une source de rayonnement électromagnétique conçue pour exciter un échantillon par un rayonnement électromagnétique introduit dans l'échantillon à un angle d'incidence au niveau ou à proximité d'un angle critique de l'échantillon ; d’un cristal de transmission en communication avec la source de rayonnement électromagnétique et l'échantillon, le cristal de transmission ayant un indice de réfraction élevé conçu pour réfléchir intérieurement le rayonnement électromagnétique ; d’un réflecteur conçu pour introduire le rayonnement électromagnétique dans l'échantillon au niveau ou à proximité d'un angle d'incidence proche de l'angle critique entre le cristal de transmission et l'échantillon, et d’un détecteur pour détecter le rayonnement électromagnétique provenant de l'échantillon. L'invention porte également sur des procédés, sur des systèmes et sur des coffrets incorporant l'appareil de spectroscopie par facteur de réflexion péri-critique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)