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1. (WO2009136613) AUTOMATIC ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/136613    International Application No.:    PCT/JP2009/058590
Publication Date: 12.11.2009 International Filing Date: 01.05.2009
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 1-24-14, Nishi Shinbashi, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP) (For All Designated States Except US).
SASAKI Takahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
ARUGA Yoichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TANOUE Hidetsugu [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SASAKI Takahiro; (JP).
ARUGA Yoichi; (JP).
TANOUE Hidetsugu; (JP)
Agent: KASUGA Yuzuru; (JP)
Priority Data:
2008-121769 08.05.2008 JP
Title (EN) AUTOMATIC ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abstract: front page image
(EN)An automatic analyzer for making a high-accuracy analysis of each of items relevant to different concentration levels even if the items are simultaneously measured.  A material excited by irradiation is used as a maker attached to a measurement object.  The analyzer has a function of varying the irradiation intensity to control the intensity of light emitted from the item marker by regulating the irradiation intensity for each analysis item or for each analysis vessel (1).  The analyzer further has a function of controlling at least either the position or posture of the analysis vessel (1) during the irradiation to adjust at least the distance or angle between the irradiation light source and the analysis vessel (1) for each analysis item and thereby to control the intensity of light applied to the measurement object.  The analyzer moreover has a function of varying the integration time of a photometric means (2) to control the integration time for each analysis item or for each analysis vessel (1).
(FR)La présente invention concerne un analyseur automatique permettant de faire une analyse de haute précision de chacun des articles se présentant sous différents niveaux de concentration, même si les articles sont mesurés simultanément. Une matière excitée par un rayonnement sert de marqueur rattaché à un objet de mesure. L'analyseur est capable de faire varier l'intensité du rayonnement de façon à commander l'intensité de lumière émise au départ du marqueur d'article en régulant l'intensité du rayonnement pour chaque article d'analyse ou pour chaque récipient d'analyse (1). L'analyseur est également capable de commander au moins la position ou la posture du récipient d'analyse (1) pendant le rayonnement de façon, d'une part à régler au moins la distance ou l'angle entre la source de lumière rayonnée et le récipient d'analyse (1) pour chaque article d'analyse, et d'autre part, par conséquent, à commander l'intensité de lumière appliquée à l'objet de mesure. L'analyseur est enfin capable de faire varier la durée d'intégration d'un organe photométrique (2) de façon à commander la durée d'intégration pour chaque article d'analyse ou pour chaque récipient d'analyse (1).
(JA) 濃度レベルの異なる複数項目を同時測定した場合であっても、それぞれの項目での分析が精度良く実施可能な自動分析装置を提供すること。 測定対象に付着させる標識として照射により励起する物質を使用し、照射強度を可変とする機能を持たせ、分析項目または分析容器(1)毎に照射強度を調整して項目標識から放出される発光量を制御する。また、照射中に分析容器(1)の位置または角度のうち少なくともいずれかを制御できる機能を持たせ、分析項目毎に照射光源と分析容器(1)の距離または角度のうち少なくともいずれかを調整して、測定対象への照射量を制御する。その他、測光手段(2)の積分時間を可変とする機能を持たせ、分析項目または分析容器(1)毎に積分時間を制御する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)