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1. (WO2009136428) DIGITAL MODULATED SIGNAL TEST EQUIPMENT AND TEST METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/136428    International Application No.:    PCT/JP2008/001180
Publication Date: 12.11.2009 International Filing Date: 09.05.2008
IPC:
H04L 27/00 (2006.01), G01R 29/06 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
WATANABE, Daisuke [JP/JP]; (JP) (For US Only).
OKAYASU, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: WATANABE, Daisuke; (JP).
OKAYASU, Toshiyuki; (JP)
Agent: MORISHITA, Sakaki; 2-11-12, Ebisu-Nishi, Shibuya-ku, Tokyo, 1500021 (JP)
Priority Data:
Title (EN) DIGITAL MODULATED SIGNAL TEST EQUIPMENT AND TEST METHOD
(FR) ÉQUIPEMENT D'ESSAI DE SIGNAL MODULÉ NUMÉRIQUE ET PROCÉDÉ D'ESSAI
(JA) デジタル変調信号の試験装置および試験方法
Abstract: front page image
(EN)An amplitude expected value data generating portion (76) generates amplitude expected value data (EP) indicating which amplitude segment the amplitude at each sampling point on a modulated signal waveform which corresponds to the expected value of the data (St) received from a test device belongs to. A demodulator (60) samples the test signal waveform (St) received from the test device, and generates judgment data (DD) which indicates which amplitude segment the amplitude at each sampling point belongs to. A judgment portion (78) compares the amplitude expected value data (EP) and the judgment data (DD) for each sampling point.
(FR)La présente invention concerne une partie génération de données de valeur attendue d'amplitude (76) qui produit des données de valeur attendue d'amplitude (EP) indiquant à quel segment d'amplitude appartient l'amplitude au niveau de chaque point d'échantillonnage sur une forme d'onde de signal modulé correspondant à la valeur attendue des données (St) reçues d'un dispositif d'essai. Un démodulateur (60) échantillonne la forme d'onde d'un signal d'essai (St) reçu du dispositif d'essai, et produit des données de décision (DD) qui indiquent à quel segment d'amplitude appartient l'amplitude au niveau de chaque point d'échantillonnage. Une partie décision (78) compare les données de valeur attendue d'amplitude (EP) et les données de décision (DD) pour chaque point d'échantillonnage.
(JA) 振幅期待値データ生成部76は、被試験デバイスからのデータStの期待値に対応する被変調信号波形のサンプリング点ごとの振幅が、複数の振幅セグメントのいずれに属するかを示す振幅期待値データEPを生成する。復調器60は、被試験デバイスからの被試験信号波形Stをサンプリングし、サンプリング点ごとの振幅が、複数の振幅セグメントのいずれに属するかを示す判定データDDを生成する。判定部78は、サンプリング点ごとの振幅期待値データEPと判定データDDを比較する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)