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1. (WO2009136427) DIGITAL MODULATED SIGNAL TEST EQUIPMENT, AND DIGITAL MODULATOR, MOUDLATING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/136427    International Application No.:    PCT/JP2008/001179
Publication Date: 12.11.2009 International Filing Date: 09.05.2008
IPC:
H04L 27/00 (2006.01), G01R 29/06 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo, 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
WATANABE, Daisuke [JP/JP]; (JP) (For US Only).
OKAYASU, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: WATANABE, Daisuke; (JP).
OKAYASU, Toshiyuki; (JP)
Agent: MORISHITA, Sakaki; 2-11-12, Ebisu-Nishi, Shibuya-ku, Tokyo, 1500021 (JP)
Priority Data:
Title (EN) DIGITAL MODULATED SIGNAL TEST EQUIPMENT, AND DIGITAL MODULATOR, MOUDLATING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME
(FR) ÉQUIPEMENT D’ESSAI DE SIGNAL MODULÉ NUMÉRIQUE, MODULATEUR NUMÉRIQUE, PROCÉDÉ DE MODULATION ET DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR LES UTILISANT
(JA) デジタル変調信号の試験装置、ならびにデジタル変調器、変調方法およびそれを用いた半導体装置
Abstract: front page image
(EN)A pattern generator (22) generates test data (PD) to be transmitted. An encoding circuit (26) generates amplitude data (DATA_1 to DATA_8) indicating a waveform of a signal to be modulated which corresponds to the test data (PD). The amplitude data (DATA_1 to DATA_8) are parallelly generated as a plurality of amplitude data at individual sampling points within a predetermined period as a unit period. A data rate setting portion (27) receives the plurality of amplitude data (DATA_1 to DATA_8) at individual sampling points, latching each amplitude data in a corresponding sampling timing, and sequentially outputs the latched data. A multivalued driver (30) receives the sequentially inputted amplitude data (WD) and generates a test signal (Smod) having a level corresponding to the value of each amplitude data.
(FR)La présente invention concerne un générateur de motifs (22) qui génère des données d’essai (PD) à transmettre. Un circuit de codage (26) produit des données d’amplitude (DONNEE_1 à DONNEE_8) indiquant une forme d’onde d’un signal à modifier qui correspond aux données d’essai (PD). Les données d’amplitude (DONNEE_1 à DONNEE_8) sont générées en parallèle comme une pluralité de données d’amplitude des points d’échantillonnage individuels dans une période prédéfinie telle qu’une unité de période. Une partie paramétrage de débit binaire (27) reçoit la pluralité de données d’amplitude (DONNEE_1 à DONNEE_8) à des points d’échantillonnage individuels, verrouillant chaque donnée d’amplitude dans une synchronisation d’échantillonnage correspondante, et délivre séquentiellement les données verrouillées. Un circuit d’attaque multivalué (30) reçoit les données d’amplitude entrées séquentiellement (WD) et génère un signal d’essai (Smod) présentant un niveau correspondant à la valeur de chaque donnée d’amplitude.
(JA) パターン発生器22は、送信すべき試験データPDを生成する。符号化回路26は、試験データPDに対応する被変調信号波形を示す振幅データDATA_1~DATA_8を生成する。振幅データDATA_1~DATA_8は、所定期間を単位として、当該所定期間内の複数のサンプリング点ごとの複数の振幅データとして並列的に生成される。データレート設定部27は、サンプリング点ごとの複数の振幅データDATA_1~DATA_8を受け、各振幅データを対応するサンプリングタイミングでラッチし、順次出力する。多値ドライバ30は、順次入力される振幅データWDを受け、その値に応じたレベルを有する試験信号Smodを生成する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)