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1. (WO2009136311) CONTACT PRESSURE CONTROL FOR PROBE FOR MATERIAL ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/136311    International Application No.:    PCT/IB2009/051708
Publication Date: 12.11.2009 International Filing Date: 27.04.2009
IPC:
A61B 5/00 (2006.01), A61B 19/00 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL) (For All Designated States Except US).
THUMMA, Kiran, K. [IN/NL]; (NL) (For US Only).
MOESKOPS, Bastiaan, W., M. [NL/NL]; (NL) (For US Only).
LIU, Yan [CN/NL]; (NL) (For US Only).
VON BASUM, Golo [DE/DE]; (NL) (For US Only)
Inventors: THUMMA, Kiran, K.; (NL).
MOESKOPS, Bastiaan, W., M.; (NL).
LIU, Yan; (NL).
VON BASUM, Golo; (NL)
Agent: KROEZE, John; (NL)
Priority Data:
08155898.3 08.05.2008 EP
Title (EN) CONTACT PRESSURE CONTROL FOR PROBE FOR MATERIAL ANALYSIS
(FR) COMMANDE DE PRESSION DE CONTACT POUR SONDE POUR ANALYSE DE MATÉRIAU
Abstract: front page image
(EN)A device for analyzing a material using illumination and optical sensing, has a probe (120) arranged to provide the illumination and for receiving light for the optical sensing, and having an optical grating (100) at a contact region of the probe for use in detecting contact pressure of the contact region on the material. A sensor senses light affected by the grating, and a controller (85) controls a contact pressure of the probe on the material, according to the determined contact pressure. By using a grating, there is little or no additional complexity in the construction of the probe, and little or no addition in the contact area of the probe. By determining contact pressure and adapting the probe position, interference effects in the analysis of the material caused by or made worse by contact pressure being too high or too low or fluctuating too much, can be reduced or avoided.
(FR)L'invention porte sur un dispositif pour analyser un matériau à l'aide d'un éclairage et d'une détection optique, lequel dispositif a une sonde (120) conçue pour assurer l'éclairage et recevoir de la lumière pour la détection optique, et ayant un réseau optique (100) en une région de contact de la sonde à utiliser dans la détection d'une pression de contact de la région de contact sur le matériau. Un détecteur détecte la lumière affectée par le réseau, et un dispositif de commande (85) commande une pression de contact de la sonde sur le matériau, selon la pression de contact déterminée. Par l'utilisation d'un réseau, il y a peu ou aucune complexité supplémentaire dans la structure de la sonde, et peu ou aucun ajout dans la surface de contact de la sonde. Par la détermination de la pression de contact et l'adaptation de la position de la sonde, des effets d'interférence lors de l'analyse du matériau, provoqués ou aggravés par le fait que la pression de contact soit trop élevée ou trop faible ou fluctue de façon trop importante, peuvent être réduits ou évités.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)