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1. (WO2009136183) ASSISTING FAILURE DIAGNOSIS IN A SYSTEM USING BAYESIAN NETWORK
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/136183    International Application No.:    PCT/GB2009/050384
Publication Date: 12.11.2009 International Filing Date: 17.04.2009
IPC:
G06F 11/00 (2006.01)
Applicants: BAE SYSTEMS PLC [GB/GB]; 6 Carlton Gardens London SW1Y 5AD (GB) (For All Designated States Except US).
BOVEY, Richard, Lee [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: BOVEY, Richard, Lee; (GB)
Agent: JONES, lthel Rhys; Wynne-Jones, Laine & James LLP 22, Rodney Road Cheltenham Gloucestershire GL50 1JJ (GB)
Priority Data:
08007614.4 18.04.2008 EP
0807077.3 18.04.2008 GB
Title (EN) ASSISTING FAILURE DIAGNOSIS IN A SYSTEM USING BAYESIAN NETWORK
(FR) AIDE AU DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE DANS UN SYSTÈME
Abstract: front page image
(EN)A method of assisting failure diagnosis in a system includes obtaining (302) data including a probabilistic Bayesian Network describing a set of failures (F1, F2), a set of symptoms (S1, S2, S3) and probabilities of at least some of the symptoms being associated with at least some of the failures in a system. A cost value (CS1) representing a cost associated with learning of a presence or absence of the symptom (S1) is obtained for at least some of the symptoms, as well as a plurality of information values (IS1-F1, IS1-F2), e.g. values representing measures of information gained by learning of the presence or absence of the symptom in relation to a respective plurality of the failures, associated with the symptom. The method then computes (308) an information-for-cost value for the symptom based on the cost value and the plurality of information values.
(FR)L'invention porte sur un procédé d'aide au diagnostic de défaillance dans un système. Le procédé consiste à obtenir (302) de données comprenant un réseau bayésien probabiliste décrivant un ensemble de défaillances (F1, F2), un ensemble de symptômes (S1, S2, S3) et des probabilités qu'au moins certains des symptômes sont associés à au moins certaines des défaillances dans un système; obtenir une valeur de coût (CS1) représentant le coût associé à l'apprentissage de la présence ou absence du symptôme (S1) pour au moins certains des symptômes, ainsi qu'une pluralité de valeurs d'informations (IS1-F1, IS1-F2), par exemple des valeurs représentant des mesures d'informations obtenues par apprentissage de la présence ou de l’absence du symptôme par rapport à une pluralité respective des défaillances associées au symptôme; à calculer (308) une valeur d'informations pour coût du symptôme en fonction de la valeur de coût et de la pluralité de valeurs d'informations.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)