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1. (WO2009135167) PHASE LABELING USING SENSITIVITY ENCODING: DATA ACQUISITION AND IMAGE RECONSTRUCTION FOR GEOMETRIC DISTORTION CORRECTION IN EPI.
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/135167    International Application No.:    PCT/US2009/042593
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 01.05.2009
IPC:
G01V 3/00 (2006.01)
Applicants: THOMAS JEFFERSON UNIVERSITY; 1020 Locust Street Suite M343 Philadelphia, PA 19107 (US) (For All Designated States Except US).
TECHAVIPOO, Udomchai [TH/US]; (US) (For US Only).
LEIST, Thomas, P. [US/US]; (US) (For US Only).
LAI, Song [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: TECHAVIPOO, Udomchai; (US).
LEIST, Thomas, P.; (US).
LAI, Song; (US)
Agent: PARISI, Joseph, A.; Nixon Peabody LLP 401 9th Street, N.w. Suite 900 Washington, DC 20004 (US)
Priority Data:
61/050,052 02.05.2008 US
Title (EN) PHASE LABELING USING SENSITIVITY ENCODING: DATA ACQUISITION AND IMAGE RECONSTRUCTION FOR GEOMETRIC DISTORTION CORRECTION IN EPI.
(FR) ÉTIQUETAGE DE PHASE UTILISANT LE CODAGE DE SENSIBILITÉ : ACQUISITION DE DONNÉES ET RECONSTRUCTION D'IMAGE POUR CORRECTION DE DISTORSION GÉOMÉTRIQUE EN IMAGERIE ÉCHO-PLANAIRE
Abstract: front page image
(EN)A phase labeling using sensitivity encoding system and method for correcting geometric distortion caused by magnetic field inhomogeneity in echo planar imaging (EPI) uses local phase shifts derived directly from the EPI measurement itself, without the need for extra field map scans or coil sensitivity maps. The system and method employs parallel imaging and k- space trajectory modification to produce multiple images from a single acquisition. The EPI measurement is also used to derive sensitivity maps for parallel imaging reconstruction. The derived phase shifts are retrospectively applied to the EPI measurement for correction of geometric distortion in the measurement itself.
(FR)La présente invention concerne un étiquetage de phase utilisant un système et procédé de codage de sensibilité en vue de corriger une distorsion géométrique causée par une inhomogénéité de champ magnétique en imagerie écho-planaire (IEP). Selon l'invention, des déphasages locaux obtenus directement de la mesure IEP elle-même sont utilisés sans avoir besoin de balayages de carte de champ ou de cartes de sensibilité de bobine supplémentaires. Le système et le procédé font appel à une imagerie parallèle et à une modification de trajectoire de l'espace k pour produire de multiples images à partir d'une acquisition unique. La mesure IEP est également utilisée pour obtenir des cartes de sensibilité en vue d'une reconstruction en imagerie parallèle. Les déphasages obtenus sont rétrospectivement appliqués à la mesure IEP en vue de corriger une distorsion géométrique dans la mesure elle-même.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)