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1. (WO2009134924) IN VIVO MEASUREMENT OF TRACE ELEMENTS IN BONE BY X-RAY FLUORESCENCE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/134924    International Application No.:    PCT/US2009/042163
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 29.04.2009
IPC:
G01N 23/223 (2006.01), A61B 6/00 (2006.01)
Applicants: THERMO NITON ANALYZERS LLC [US/US]; 900 Middlesex Turnpike Building 8 Billerica, MA 01821 (US) (For All Designated States Except US).
GRODZINS, Lee [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: GRODZINS, Lee; (US)
Agent: KATZ, Charles, B.; (US)
Priority Data:
61/049,373 30.04.2008 US
Title (EN) IN VIVO MEASUREMENT OF TRACE ELEMENTS IN BONE BY X-RAY FLUORESCENCE
(FR) MESURE IN VIVO DES OLIGO-ÉLÉMENTS DANS LES OS PAR FLUORESCENCE X
Abstract: front page image
(EN)Methods for in vivo measurement of lead or other trace elements in bone by x-ray fluorescence (XRF) without independent measurement of underlying tissue thickness are disclosed. In one method, the lead concentration is calculated based on the intensity of a first characteristic fluoresced peak and a function having as an argument the intensity ratio of first and second characteristic fluoresced peaks, with at least one parameter of the function being empirically determined by measurements of calibration phantoms having differing thicknesses of tissue surrogate material. In another method, the lead concentration is measured by estimating tissue thickness based on the intensity of the Compton scattering peak, or ratio of Compton/Rayleigh intensities, and the intensity of a characteristic fluoresced x-ray peak corrected for attenuation by tissue of the estimated thickness. Also disclosed is a method for determining the calcium concentration and density of bone based on XRF spectrum data.
(FR)La présente invention concerne des procédés de mesure in vivo du plomb ou d'autres oligo-éléments dans les os par fluorescence X (XRF, de l'anglais X-ray fluorescence) sans mesure indépendante de l'épaisseur du tissu sous-jacent. Selon un procédé, la concentration en plomb est calculée sur la base de l'intensité d'un premier pic de fluorescence caractéristique et d'une fonction ayant pour variable indépendante le rapport d'intensité entre les premier et second pics de fluorescence caractéristiques, sachant qu'au moins un paramètre de la fonction est déterminé de façon empirique par la mesure de fantômes d'étalonnage présentant des épaisseurs différentes de succédanés de matériaux tissulaires. Selon un autre procédé, la concentration en plomb est mesurée grâce à l'estimation de l'épaisseur du tissu sur la base de l'intensité du pic de diffusion Compton, ou du rapport entre les intensités Compton et Rayleigh, l'intensité d'un pic de fluorescence X caractéristique étant corrigée pour tenir compte de l'atténuation par le tissu de l'épaisseur estimée. L'invention concerne encore un procédé de détermination de la concentration en calcium et de la densité osseuse sur la base des données du spectre XRF.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)