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1. (WO2009134849) HANDHELD X-RAY DIFFRACTOMETER COMPRISING A PLURALITY OF FIXED AREA OR LINEAR DETECTORS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/134849    International Application No.:    PCT/US2009/042051
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 29.04.2009
IPC:
G01N 23/207 (2006.01)
Applicants: BRUKER AXS, INC. [US/US]; 5465 E. Cheryl Parkway Madison, WI 53711-5373 (US) (For All Designated States Except US).
HE, Bob, B. [US/US]; (US) (For US Only).
DURST, Roger, D. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: HE, Bob, B.; (US).
DURST, Roger, D.; (US)
Agent: KUDIRKA, Paul, E.; (US)
Priority Data:
12/113,505 01.05.2008 US
Title (EN) HANDHELD X-RAY DIFFRACTOMETER COMPRISING A PLURALITY OF FIXED AREA OR LINEAR DETECTORS
(FR) DIFFRACTOMÈTRE PORTATIF AUX RAYONS X À DÉTECTEURS BIDIMENSIONNELS
Abstract: front page image
(EN)A handheld X-ray diffractometer comprises a miniaturized X-ray source and multiple area detectors to allow the diffractometer to obtain two-dimensional X-ray diffraction images in a large diffraction space without rotating the sample. The source and detectors are located inside of a radio opaque enclosure that protects the operator during use. The handheld diffractometer also comprises a sample monitoring and alignment system that allows an operator to observe the measuring area and to align the diffractometer to the sample from outside of the housing. A specially designed mouthpiece, which mates the diffractometer to the sample area, prevents x-ray leakage and triggers off the data collection. The detectors can be positioned to perform measurements necessary to calculate a mechanical stress in the sample. Linear detectors may also be used in place of the area detectors.
(FR)La présente invention concerne un diffractomètre portatif aux rayons X comprenant une source de rayons X miniaturisée et de multiples détecteurs matriciels permettant au diffractomètre d'obtenir des images bidimensionnelles de diffraction des rayons X dans un vaste espace de diffraction sans rotation de l'échantillon. La source et les détecteurs sont situés à l'intérieur d'une enceinte radio-opaque protégeant l'opérateur durant l'utilisation. Le diffractomètre portatif comprend également un système de suivi et d'alignement de l'échantillon permettant à l'opérateur d'observer la zone de mesure et d'aligner le diffractomètre avec l'échantillon depuis l'extérieur de l'enceinte. Une embouchure spécialement conçue, qui relie le diffractomètre à la zone contenant l'échantillon, évite la fuite des rayons X et déclenche le recueil des données. Les détecteurs peuvent être positionnés de façon à pratiquer les mesures nécessaires à la détermination d'une contrainte mécanique s'exerçant dans l'échantillon. Des détecteurs linéaires peuvent également être utilisés à la place des détecteurs matriciels.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)