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1. (WO2009134397) METHOD AND APPARATUS FOR CALIBRATING AN RDAC FOR END-TO-END TOLERANCE CORRECTION OF OUTPUT RESISTANCE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/134397    International Application No.:    PCT/US2009/002648
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 28.04.2009
IPC:
H03M 1/10 (2006.01), H03M 1/68 (2006.01), H03M 1/76 (2006.01)
Applicants: ANALOG DEVICES, INC. [US/US]; One Technology Way P.O. Box 9106 Norwood, Massachusetts 02062-9106 (US) (For All Designated States Except US).
JAIN, Dinesh [IN/IN]; (IN) (For US Only).
JHA, Kaushal, Kumar [IN/IN]; (IN) (For US Only)
Inventors: JAIN, Dinesh; (IN).
JHA, Kaushal, Kumar; (IN)
Agent: HAILS, Robert, L., Jr.; (US)
Priority Data:
12/113,946 02.05.2008 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR CALIBRATING AN RDAC FOR END-TO-END TOLERANCE CORRECTION OF OUTPUT RESISTANCE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL D’ÉTALONNAGE D’UN RDAC POUR UNE CORRECTION DE TOLÉRANCE BOUT-À-BOUT D’UNE RÉSISTANCE DE SORTIE
Abstract: front page image
(EN)A system and method for calibrating an RDAC to obtain an expected resistance are disclosed. In one embodiment, a method of obtaining an expected resistance from an RDAC circuit includes receiving a digital signal comprising a digital code by an on-chip calibration code engine, automatically deriving a calibrated digital code based on resistance versus digital code characteristic curves of an expected RDAC and the RDAC associated with the calibration code engine, and inputting the calibrated digital code into the RDAC associated with the calibration code engine to obtain an expected resistance. The method also includes forming the resistance versus digital code characteristic curves of the expected RDAC and the RDAC, computing a gain error and an offset error using the formed resistance versus digital code characteristic curves of the RDAC and the expected RDAC and storing the gain error and the offset error in a non-volatile/volatile RDAC memory.
(FR)L’invention concerne un système et un procédé d’étalonnage d’un RDAC permettant d’obtenir une résistance escomptée. Dans un mode de réalisation, le procédé permettant d’obtenir une résistance escomptée à partir d’un circuit RDAC consiste à recevoir un signal numérique comportant un code numérique au niveau d’un moteur de code d’étalonnage sur puce, à dériver automatiquement un code numérique étalonné à partir des courbes caractéristiques de résistance/code numérique d’un RDAC escompté et d’un RDAC associé au moteur de code d’étalonnage, et à envoyer le code numérique étalonné vers le RDAC associé au moteur de code d’étalonnage afin d’obtenir une résistance escomptée. Le procédé consiste également à établir les courbes caractéristiques de résistance/code numérique du RDAC escompté et du RDAC, à calculer une erreur de gain et une erreur de décalage en utilisant les courbes caractéristiques ainsi établies de résistance/code numérique du RDAC et du RDAV escompté, et à stocker l’erreur de gain et l’erreur de décalage dans une mémoire de RDAC non volatile/volatile.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)