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1. (WO2009133853) TOTAL REFLECTION TERAHERTZ WAVE MEASUREMENT DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/133853    International Application No.:    PCT/JP2009/058282
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 27.04.2009
IPC:
G01N 21/3586 (2014.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/552 (2014.01)
Applicants: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP) (For All Designated States Except US).
NAKANISHI Atsushi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KAWADA Yoichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
YASUDA Takashi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAKAHASHI Hironori [JP/JP]; (JP) (For US Only).
FUJIMOTO Masatoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
AOSHIMA Shinichiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: NAKANISHI Atsushi; (JP).
KAWADA Yoichi; (JP).
YASUDA Takashi; (JP).
TAKAHASHI Hironori; (JP).
FUJIMOTO Masatoshi; (JP).
AOSHIMA Shinichiro; (JP)
Agent: HASEGAWA Yoshiki; SOEI PATENT AND LAW FIRM Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl. 1-1, Marunouchi 2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
Priority Data:
2008-118864 30.04.2008 JP
Title (EN) TOTAL REFLECTION TERAHERTZ WAVE MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D'ONDES TÉRAHERTZIENNES DE RÉFLEXION TOTALE
(JA) 全反射テラヘルツ波測定装置
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a total reflection terahertz wave measurement device (1) provided with a light source (11), a branch section (12), a chopper (13), an optical path length difference adjustment unit (14), a light polarizer (15), a beam splitter (17), a terahertz wave generation element (20), a filter (25), a total internal reflection prism (31), a terahertz wave detection element (40), a 1/4-wavelength plate (51), a polarized light separation element (52), a light detector (53a), a light detector (53b), a differential amplifier (54), and a lock-in amplifier (55). The total internal reflection prism (31) is a so-called aberration-free prism and has an incident plane (31a), a radiation plane (31b), and a reflection plane (31c). The terahertz wave generation element (20) and the filter (25) are integrated into the incident plane (31a) of the total internal reflection prism (31). The terahertz wave detection element (40) is integrated into the radiation surface (31b) of the total internal reflection prism (31). The filter (25) allows terahertz waves to pass through and blocks pump light. Therefore, a total reflection terahertz wave measurement device which can be reduced in size is realized.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure d'ondes térahertziennes de réflexion totale (1), équipé d'une source lumineuse (11), d'une section de dérivation (12), d'un pulsateur (13), d'un ensemble de correction de la différence de longueur de parcours optique (14), d'un polarisateur de lumière (15), d'un dispositif de fractionnement des rayons (17), d'un élément de génération d'ondes térahertziennes (20), d'un filtre (25), d'un prisme de réflexion totale interne (31), d'un élément de détection d'ondes térahertziennes (40), d'une lame d'1/4 de longueur d'onde (51), d'un élément servant à la séparation de la lumière polarisée (52), d'un détecteur de lumière (53a), d'un détecteur de lumière (53b), d'un amplificateur différentiel (54) et d'un amplificateur à détection synchrone (55). Le prisme de réflexion totale interne (31) est ce que l'on appelle un prisme dépourvu d'aberrations; il présente un plan d'incidence (31a), un plan de rayonnement (31b) et un plan de réflexion (31c). L'élément de génération d'ondes térahertziennes (20) et le filtre (25) sont intégrés dans le plan d'incidence (31a) du prisme de réflexion totale interne (31). L'élément de détection d'ondes térahertziennes (40) est intégré dans la surface de rayonnement (31b) du prisme de réflexion totale interne (31). Le filtre (25) permet aux ondes térahertziennes de passer, mais bloque la lumière de pompe. En conséquence, il est possible d'obtenir un dispositif de mesure d'ondes térahertziennes de réflexion totale de taille réduite.
(JA) 全反射テラヘルツ波測定装置1は、光源11、分岐部12、チョッパ13、光路長差調整部14、偏光子15、ビームスプリッタ17、テラヘルツ波発生素子20、フィルタ25、内部全反射プリズム31、テラヘルツ波検出素子40、1/4波長板51、偏光分離素子52、光検出器53a、光検出器53b、差動増幅器54およびロックイン増幅器55を備える。内部全反射プリズム31は、いわゆる無収差プリズムであって、入射面31a,出射面31bおよび反射面31cを有する。内部全反射プリズム31の入射面31aにテラヘルツ波発生素子20およびフィルタ25が一体に設けられ、内部全反射プリズム31の出射面31bにテラヘルツ波検出素子40が一体に設けられている。フィルタ25は、テラヘルツ波を透過させ、ポンプ光を遮断する。これにより、小型化が可能な全反射テラヘルツ波測定装置が実現される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)