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1. (WO2009133383) IMAGE PROCESSING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/133383    International Application No.:    PCT/GB2009/050374
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 15.04.2009
IPC:
G06K 9/00 (2006.01), G06K 9/62 (2006.01)
Applicants: BAE SYSTEMS PLC [GB/GB]; 6 Carlton Gardens London SW1Y 5AD (GB) (For All Designated States Except US).
WILLIS, Christopher, Jon [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: WILLIS, Christopher, Jon; (GB)
Agent: BAE SYSTEMS PLC, GROUP IP DEPT; PO Box 87 Farnborough Aerospace Centre Farnborough Hampshire GU14 6YU (GB)
Priority Data:
08155309.1 28.04.2008 EP
0807675.4 28.04.2008 GB
Title (EN) IMAGE PROCESSING
(FR) TRAITEMENT D'IMAGE
Abstract: front page image
(EN)A method and apparatus are provided for analysing a scene, in particular a scene represented in a hyperspectral image, and for classifying regions within the scene. The method may be used in particular for identifying anomalous (novelty or outlier) features within the scene. In the method, adapted in a preferred embodiment from a known expectation maximisation algorithm, a "measure of outlierness" is determined and used to weight the contribution of training samples for a scene to the component statistics in a statistical model representing features in the scene. Preferably, the measure of outlierness is based upon the v parameter in a Student's t-distribution and the invention provides techniques for parameterising the v parameter and other parameters of the model.
(FR)L'invention porte sur un procédé et sur un appareil destiné à analyser une scène, en particulier une scène représentée dans une image hyperspectrale, et à classer des zones de la scène. En particulier, le procédé peut être utilisé pour identifier des caractéristiques anormales (nouveauté ou observation aberrante) de la scène. Ce procédé, qui dans mode de réalisation préféré est basé sur un algorithme d'espérance-maximisation connu, consiste à déterminer une "mesure d'aberrance" utilisée pour pondérer la contribution des échantillons d'apprentissage d'une scène aux statistiques des composantes dans un modèle statistique représentant des caractéristiques de la scène. De préférence, la mesure d'aberrance est fondée sur le paramètre v dans une distribution de Student, et l'invention fournit des techniques de paramétrage du paramètre ν et d'autres paramètres du modèle.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)