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1. (WO2009132437) APPARATUS AND METHOD FOR IMPROVING THE ACCURACY OF MEASUREMENTS TAKEN WITH A CAPACITANCE- TYPE SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/132437    International Application No.:    PCT/CA2009/000562
Publication Date: 05.11.2009 International Filing Date: 27.04.2009
IPC:
G01R 35/00 (2006.01), B65D 90/48 (2006.01), F17C 13/02 (2006.01), G01F 23/26 (2006.01)
Applicants: WESTPORT POWER INC. [CA/--]; 101-1750 West 75th Ave. Vancouver, British Columbia (CA) (For All Designated States Except US).
DUAN, Justin [CA/CA]; (CA) (For US Only)
Inventors: DUAN, Justin; (CA)
Agent: SECHLEY, Konrad, A.; Gowling Lafleur Henderson LLP P.O. Box 30, Suite 2300, 550 Burrard Street Vancouver, British Columbia V6C 2B5 (CA)
Priority Data:
2,629,960 28.04.2008 CA
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR IMPROVING THE ACCURACY OF MEASUREMENTS TAKEN WITH A CAPACITANCE- TYPE SENSOR
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR AMÉLIORER LA PRÉCISION DE MESURES EFFECTUÉES À L’AIDE D’UN CAPTEUR DE TYPE CAPACITIF
Abstract: front page image
(EN)An apparatus and method is disclosed for improving the accuracy of measurements taken with a capacitance-type sensor. In addition to the sensor the apparatus comprises a measurement circuit and a microprocessor. One of the sensor or a calibration capacitor with a known and fixed capacitance is connectable to the measurement circuit by a switch that has its position controlled by the microprocessor. The microprocessor sends measurement signals to the measurement circuit and receives data therefrom. According to the disclosed method, the measurement circuit is programmed to determine an error between measured calibration data and the known capacitance and to use this error to calculate a correction value, which it applies to the measured sensor data to calculate corrected sensor measurements.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé destinés à améliorer la précision de mesures effectuées à l’aide d’un capteur de type capacitif. En plus du capteur, l’appareil comprend un circuit de mesure et un microprocesseur. Il est possible de relier le capteur ou un condensateur d’étalonnage de capacité connue et fixe au circuit de mesure au moyen d’un commutateur dont la position est commandée par le microprocesseur. Le microprocesseur envoie des signaux de mesure au circuit de mesure et reçoit des données provenant de celui-ci. Selon le procédé décrit, le circuit de mesure est programmé de façon à déterminer une erreur entre des données d’étalonnage mesurées et la capacité connue et à utiliser ladite erreur pour calculer une valeur de correction, qu’il applique aux données mesurées du capteur pour calculer des mesures de capteur corrigées.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)