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1. (WO2009129864) METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL INHOMOGENEITIES CAUSED BY LOCAL DEFECTS IN A CONDUCTIVE LAYER AND CORRESPONDING APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/129864    International Application No.:    PCT/EP2008/055110
Publication Date: 29.10.2009 International Filing Date: 25.04.2008
IPC:
G01R 31/309 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: AGC GLASS EUROPE [BE/BE]; Chaussée de La Hulpe, 166 B-1170 Bruxelles (Watermael-Boitsfort) (BE) (For All Designated States Except US).
LUIJKX, Antoine [BE/BE]; (BE) (For US Only).
LEFEVRE, Hugues [DE/DE]; (DE) (For US Only).
MARTIN, Eric [BE/BE]; (BE) (For US Only)
Inventors: LUIJKX, Antoine; (BE).
LEFEVRE, Hugues; (DE).
MARTIN, Eric; (BE)
Agent: VERBRUGGE, Vivien; Rue de l'Aurore, 2, B-6040 Jumet (BE)
Priority Data:
Title (EN) METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL INHOMOGENEITIES CAUSED BY LOCAL DEFECTS IN A CONDUCTIVE LAYER AND CORRESPONDING APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ POUR DÉTECTER DES INHOMOGÉNÉITÉS ÉLECTRIQUES PROVOQUÉES PAR DES DÉFAUTS LOCAUX DANS UNE COUCHE CONDUCTRICE ET APPAREIL CORRESPONDANT
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a method for detecting electrical inhomogeneities in a conductive layer 10 on a substrate 1 comprising the steps of heating the substrate between at least two connectors 11, 12 by applying a predetermined voltage level between the connectors 11, 12 in a predetermined direction on the substrate 1; and detecting local defects in the conductive layer 10 by determining changes in the coating temperature of the conductive layer 10 on the substrate 1. This way, a possibility for detecting electrical inhomogeneities in a conductive layer on a substrate is provided which is easy, fast and reliable.
(FR)L'invention porte sur un procédé pour détecter des inhomogénéités électriques dans une couche conductrice 10 sur un substrat 1, comprenant les étapes consistant à chauffer le substrat entre au moins deux connecteurs 11, 12 par application d'un niveau de tension prédéterminé entre les connecteurs 11, 12 dans une direction prédéterminée sur le substrat 1; et détecter des défauts locaux dans la couche conductrice 10 par détermination de changements de la température de revêtement de la couche conductrice 10 sur le substrat 1. De cette façon, une possibilité pour détecter des inhomogénéités électriques dans une couche conductrice sur un substrat est permise, laquelle est facile, rapide et fiable.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)