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1. (WO2009126453) LITHOFACIES CLASSIFICATION SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/126453    International Application No.:    PCT/US2009/038498
Publication Date: 15.10.2009 International Filing Date: 27.03.2009
IPC:
G01V 11/00 (2006.01)
Applicants: CHEVRON U.S.A. INC. [US/US]; 6001 Bollinger Canyon Road San Ramon, CA 94583 (US) (For All Designated States Except US).
HRUSKA, Marina, M. [RS/US]; (US) (For US Only).
COREA, William, C. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: HRUSKA, Marina, M.; (US).
COREA, William, C.; (US)
Agent: TEIXEIRA, Maurice, E.; (US).
CHRISTIAN, Steven, L.; (US).
GALLO, Nicholas, F.; (US).
MICKELSON, Edward, T.; (US).
NORTHCUTT, Christopher, D.; (US).
PENNEBAKER, Torrey; (US).
TURNER, Frank, C.; (US).
LEACH, Nicholas, N.; (US)
Priority Data:
12/098,533 07.04.2008 US
Title (EN) LITHOFACIES CLASSIFICATION SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE CLASSIFICATION DES LITHOFACIÈS
Abstract: front page image
(EN)A method of analyzing characteristics of a subterranean formation includes applying a wavelet transform to measured data or to derived data obtained from the measured data, the measured data obtained by measuring a physical property at each of a plurality of positions in a borehole that penetrates the subterranean formation; selecting one or more scales for analyzing wavelet coefficients; performing a segmentation of the data; calculating a distribution of wavelet coefficients for each scale, for one or more spatial directions of wavelet transform application, for the wavelet transform of the data and for each segment that belongs to the portion on which the wavelet transform has been calculated; and for each segment, analyzing a distribution of the data and the distribution of the wavelet coefficients for each scale in terms of their overlap with corresponding distributions of training samples to produce a geological interpretation of the subterranean formation.
(FR)L'invention porte sur un procédé d'analyse des caractéristiques d'une formation souterraine, ce procédé comprenant l'application d'une transformée en ondelettes à des données mesurées ou à des données dérivées obtenues à partir des données mesurées, les données mesurées étant obtenues par mesure d'une propriété physique au niveau de chacune d'une pluralité de positions dans un sondage qui pénètre dans la formation souterraine; la sélection d'une ou plusieurs échelles pour analyser les coefficients d'ondelettes; l'exécution d'une segmentation des données; le calcul d'une distribution des coefficients d'ondelettes pour chaque échelle, pour une ou plusieurs directions spatiales de l'application de la transformée en ondelettes, pour chaque transformée en ondelettes des données et pour chaque segment qui appartient à la partie sur laquelle a été calculée la transformée en ondelettes; et, pour chaque segment, l'analyse d'une distribution des données et de la distribution des coefficients d'ondelettes pour chaque échelle, exprimée par leur chevauchement par des distributions correspondantes d'échantillons d'essai, pour produire une interprétation géologique de la formation souterraine.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)