WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2009123002) METHOD OF INSPECTING POLARIZING FILM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/123002    International Application No.:    PCT/JP2009/056078
Publication Date: 08.10.2009 International Filing Date: 26.03.2009
IPC:
G01N 21/892 (2006.01)
Applicants: SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED [JP/JP]; 27-1, Shinkawa 2-chome, Chuo-ku, Tokyo, 1048260 (JP) (For All Designated States Except US).
SHINOZUKA, Atsuhiko; (For US Only).
KASAI, Toshiyuki; (For US Only).
YAMANE, Hisanori; (For US Only)
Inventors: SHINOZUKA, Atsuhiko; .
KASAI, Toshiyuki; .
YAMANE, Hisanori;
Agent: HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5300041 (JP)
Priority Data:
2008-090436 31.03.2008 JP
Title (EN) METHOD OF INSPECTING POLARIZING FILM
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UN FILM POLARISANT
(JA) 偏光フィルムの検査方法
Abstract: front page image
(EN)Defects of a belt-like polarizing film are detected by using a defect inspection device (S2), and, based on the detection results about the defects, defect position data for indicating the positions of the defects is created and stored in a storage medium (S3), and the belt-like polarizing film is taken up on a roll (S5). Then, the belt-like polarizing film is wound off from the roll (S6), and other film is stacked on the belt-like polarizing film (S7). After stacking the other film, the defect position data stored in the storage medium is read in to identify the positions of the defects in the polarizing film based on the read-in defect position data (S8). Based on the identified positions of the defects, marks are formed near the positions of the defects on the other film (S9). Consequently, marks can be formed near the positions of the defects detected by the defect inspection device without making unusable a portion of the polarizing film which contains only the acceptable defects out of the defects detected by the defect inspection device.
(FR)Selon l’invention, des défauts d'un film polarisant du type courroie sont détectés par utilisation d'un dispositif d'inspection de défaut (S2) et, sur la base des résultats de la détection concernant les défauts, des données de position de défauts, destinées à indiquer la position des défauts, sont créées et stockées dans un support d'enregistrement (S3), et le film polarisant du type courroie est repris par une bobine (S5). Ensuite, le film polarisant du type courroie est déroulé de la bobine (S6), et un autre film est empilé sur le film polarisant du type courroie (S7). Après empilement de l'autre film, les données de position de défauts stockées dans le support d'enregistrement sont lues pour identifier la position des défauts dans le film polarisant sur la base des données de position de défauts lues (S8). Sur la base de la position identifiée des défauts, des marques sont formées au voisinage des positions des défauts sur l'autre film (S9). En conséquence, des marques peuvent être formées au voisinage des positions des défauts détectés par le dispositif d'inspection des défauts, sans rendre inutilisable la partie du film polarisant qui ne contient que les défauts acceptables, parmi les défauts détectés par le dispositif d'inspection des défauts.
(JA) 帯状の偏光フィルムに対して欠陥検査装置を用いて欠陥の検出を行い(S2)、欠陥の検出結果に基づき、欠陥の位置を示す欠陥位置データを作成して記憶媒体に保存し(S3)、帯状の偏光フィルムをロールに巻き取り(S5)、ロールから帯状の偏光フィルムを巻き出し(S6)、帯状の偏光フィルムに対して他のフィルムを積層し(S7)、他のフィルムの積層後に、記憶媒体に保存された欠陥位置データを読み込み、読み込んだ欠陥位置データに基づいて偏光フィルムの欠陥位置を特定し(S8)、特定された欠陥位置に基づいて上記他のフィルムにおける欠陥の近傍位置にマークを形成する(S9)。これにより、偏光フィルムにおける、欠陥検査装置で検出された欠陥のうちで許容される欠陥のみを含む部分を製品として使用不可能とすることなく、欠陥検査装置で検出された欠陥の近傍位置にマークを形成することができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)