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1. (WO2009122904) ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND DEVICE THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/122904    International Application No.:    PCT/JP2009/055209
Publication Date: 08.10.2009 International Filing Date: 17.03.2009
IPC:
G01N 29/04 (2006.01)
Applicants: Krautkramer Japan Co., Ltd [JP/JP]; 13-13, Nishiikebukuro 5-chome, Toshima-ku Tokyo 1710021 (JP) (For All Designated States Except US).
MURAI, Junichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
BRACONNIER, Dominique [FR/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: MURAI, Junichi; (JP).
BRACONNIER, Dominique; (JP)
Agent: SAMEJIMA, Takenobu; Shinmachi Bldg. 905 2-13, Shinmachi 1-chome Nishi-ku Osaka-shi Osaka 5500013 (JP)
Priority Data:
2008-089594 31.03.2008 JP
Title (EN) ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD AND DEVICE THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION ULTRASONORE DE DÉFAUTS ET DISPOSITIF POUR LE METTRE EN ŒUVRE
(JA) 超音波探傷方法とその装置
Abstract: front page image
(EN)An ultrasonic flaw detection device using a volume focus fault detection method is as follows. The device detects faults in the inside of an object to be tested having a substantially circular cross section, wherein resonators (1 1) are arranged like an arc along a circular formed by the object to be tested. Array probes (10 10) are arranged so as to surround the object using an oblique flaw detection method. The excitation means can detect faults of an object to be tested, and the excitation means causes the ultrasonic waves to be incident into the inside of the object through each of sections of incident sections by vibrating the plurality of the resonators once and to reach a section opposite to the incident section on the circumference of the circle formed by the object and causes a plurality of resonators to be incident into the inside of the object using another one-time vibration, and causes the incident ultrasonic waves to reach any one of neighboring sections adjacent to the opposite section.
(FR)L'invention concerne un dispositif de détection ultrasonore de défauts qui emploie un procédé de détection de défauts de foyer en volume. Le dispositif détecte des défauts à l'intérieur d'un objet à tester dont la section transversale est sensiblement circulaire, des résonateurs (1     1) étant disposés en arc le long d'un segment circulaire formé par l'objet à tester. Des sondes en réseau (10     10) sont placées de façon à entourer l'objet en employant un procédé de détection de défauts oblique. Le moyen d'excitation peut détecter des défauts d'un objet à tester, et le moyen d'excitation a pour effet que les ondes ultrasonores sont incidentes à l'intérieur de l'objet à travers chacune des sections des sections incidentes en faisant vibrer la pluralité de résonateurs une fois et qu'elles atteignent une section opposée à la section incidente sur la circonférence du cercle formé par l'objet, et il a pour effet qu'une pluralité de résonateurs sont incidents à l'intérieur de l'objet en utilisant une autre vibration à un temps, et il a pour effet que les ondes ultrasonores incidentes atteignent chacune des sections voisines adjacentes à la section opposée.
(JA)本願発明に係る装置は、ボリュームフォーカス探傷法を用いた超音波探傷装置について、次のものを提供する。 即ち、この装置は、断面が略円形の被検材の内部探傷を行うものであり、振動子1…1は、被検材が呈する円に沿って弧状に配列される。各アレイプローブ10…10は、被検材を取り囲むように配置される。励振手段は、垂直及び斜角探傷法にて、被検材の探傷を行わせることができ、励振手段は、超音波を、複数の振動子の1回の振動により、入射区間の各位置から被検材内部へ入射させて、被検材が呈する上記円の周上において入射区間と対向する対向区間に到達させると共に、複数の振動子の他の1回の振動にて、被検材内部へ入射させ、入射させた超音波を上記の対向区間と隣接する隣接区間の一方に到達させる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)