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1. (WO2009120264) SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING COMPLEX TOKENS IN AN IMAGE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2009/120264 International Application No.: PCT/US2009/001526
Publication Date: 01.10.2009 International Filing Date: 10.03.2009
IPC:
G06K 9/46 (2006.01)
Applicants: FRIEDHOFF, Richard, Mark[US/US]; US (UsOnly)
SMITH, Casey, Arthur[US/US]; US (UsOnly)
MAXWELL, Bruce, Allen[US/US]; US (UsOnly)
TANDENT VISION SCIENCE, INC.[US/US]; 505 Montgomery Street San Francisco, CA 94111, US (AllExceptUS)
Inventors: FRIEDHOFF, Richard, Mark; US
SMITH, Casey, Arthur; US
MAXWELL, Bruce, Allen; US
Agent: DAVIDSON, Clifford, M.; US
GEHRIS, William, C.; US
D'ARIENZO, Felix, L.; US
DAVIDSON, Leslye, B.; US
KAPPEL, Cary, S.; US
Priority Data:
12/079,87728.03.2008US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING COMPLEX TOKENS IN AN IMAGE
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR IDENTIFIER DES JETONS COMPLEXES DANS UNE IMAGE
Abstract: front page image
(EN) In a first exemplary embodiment of the present invention, an automated, computerized method is provided for processing an image. According to a feature of the present invention, the method comprises the step of performing a filter response technique to identify patches of uniform reflectance within the image. In a further exemplary embodiment, the method comprises the additional step of utilizing the identified patches of uniform material reflectance to generate single material token regions for use in processing material and illumination aspects of the image.
(FR) Dans un premier exemple de mode de réalisation de la présente invention, un procédé informatisé automatisé pour traiter une image est décrit. Selon une particularité de la présente invention, le procédé comprend l’étape consistant à effectuer une technique de réponse de filtre pour identifier des plages de facteur de réflexion uniforme au sein de l’image. Dans un exemple de mode de réalisation supplémentaire, le procédé comprend l’étape additionnelle d’utilisation des plages identifiées de facteur de réflexion de matériau uniforme pour générer des régions de jeton de matériau unique à utiliser dans le traitement d’un matériau et des aspects d’illumination de l’image.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)