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1. (WO2009120100) AN ANALYSIS SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/120100    International Application No.:    PCT/NZ2009/000046
Publication Date: 01.10.2009 International Filing Date: 26.03.2009
Chapter 2 Demand Filed:    16.12.2009    
IPC:
G01N 21/01 (2006.01)
Applicants: VERITIDE LIMITED [NZ/NZ]; 200 Armagh Street Christchurch , 8013 (NZ) (For All Designated States Except US).
REINISCH, Lou [US/NZ]; (NZ) (For US Only).
CHURCHWELL, Steven Todd [US/NZ]; (NZ) (For US Only).
BOULTON, James Martin [NZ/NZ]; (NZ) (For US Only).
HURST, Robert Brook [NZ/NZ]; (NZ) (For US Only).
RUDGE, Andrew David [NZ/NZ]; (NZ) (For US Only)
Inventors: REINISCH, Lou; (NZ).
CHURCHWELL, Steven Todd; (NZ).
BOULTON, James Martin; (NZ).
HURST, Robert Brook; (NZ).
RUDGE, Andrew David; (NZ)
Agent: ADAMS, Matthew, D; (NZ)
Priority Data:
61/039,589 26.03.2008 US
Title (EN) AN ANALYSIS SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE
Abstract: front page image
(EN)An analysis system for analysis of a test sample comprises a hand holdable analysis instrument and a separate base, the instrument and base inter-fitting when the instrument is placed on the base to define a closed cavity between an underside of the instrument and the base for analysis of a sample positioned in the closed cavity. For optical analysis the closed cavity may be substantially light-sealed from the environment. The cavity may be defined primarily in the underside of the instrument. The analysis system may also comprise a sample collector for receiving and holding the test sample in the closed cavity when the instrument is placed on the base.
(FR)L'invention porte sur un système d'analyse pour analyser un échantillon de test, qui comprend un instrument d'analyse pouvant être tenu à la main et une base séparée, l'instrument et la base s'adaptent l'un avec l'autre lorsque l'instrument est placé sur la base pour définir une cavité fermée entre un côté inférieur de l'instrument et la base pour une analyse d'un échantillon positionné dans la cavité fermée. Pour une analyse optique, la cavité fermée peut être sensiblement scellée de manière étanche à la lumière vis-à-vis de l'environnement. La cavité peut être définie principalement dans le côté inférieur de l'instrument. Le système d'analyse peut également comprendre un collecteur d'échantillon pour recevoir et supporter l'échantillon de test dans la cavité fermée lorsque l'instrument est placé sur la base.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)