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1. WO2009084581 - X-RAY EXAMINING APPARATUS AND X-RAY EXAMINING METHOD

Publication Number WO/2009/084581
Publication Date 09.07.2009
International Application No. PCT/JP2008/073587
International Filing Date 25.12.2008
IPC
G01N 23/04 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/-G01N17/178
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
CPC
A61B 6/466
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
6Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
46with special arrangements for interfacing with the operator or the patient
461Displaying means of special interest
466adapted to display 3D data
G01N 2223/3302
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
30Accessories, mechanical or electrical features
33scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
3302object and detector fixed
G01N 2223/419
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
40Imaging
419computed tomograph
G01N 2223/6113
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
60Specific applications or type of materials
611patterned objects; electronic devices
6113printed circuit board [PCB]
G01N 23/046
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
046using tomography, e.g. computed tomography [CT]
G01T 1/2985
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
29Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
2914Measurement of spatial distribution of radiation
2985In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis);
Applicants
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 益田 真之 MASUDA, Masayuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 加藤 訓之 KATO, Noriyuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 杉田 信治 SUGITA, Shinji [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 松波 剛 MATSUNAMI, Tsuyoshi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 佐々木 泰 SASAKI, Yasushi [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventors
  • 益田 真之 MASUDA, Masayuki
  • 加藤 訓之 KATO, Noriyuki
  • 杉田 信治 SUGITA, Shinji
  • 松波 剛 MATSUNAMI, Tsuyoshi
  • 佐々木 泰 SASAKI, Yasushi
Agents
  • 深見 久郎 FUKAMI, Hisao
Priority Data
2007-33757227.12.2007JP
2008-06518714.03.2008JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) X-RAY EXAMINING APPARATUS AND X-RAY EXAMINING METHOD
(FR) APPAREIL D'EXAMEN AUX RAYONS X ET PROCÉDÉ D'EXAMEN AUX RAYONS X
(JA) X線検査装置およびX線検査方法
Abstract
(EN)
An X-ray examining apparatus for quickly examining a predetermined examination area of a subject to be examined. The X-ray examining apparatus (100) comprises a scanning X-ray source (10) for outputting X-rays, an X-ray detector drive unit (22) to which X-ray detectors (23) are attached and which independently drives the X-ray detectors (23), and an image acquisition control mechanism (30) for controlling acquisition of image data from the X-ray detector drive unit (22) and the X-ray detectors (23). The scanning X-ray source (10) emits X-rays while moving the X-ray focal point of the X-ray source to the originating positions of X-ray emission determined so that the X-rays are transmitted through the predetermined examination area of the subject (20) and enter the X-ray detectors (23). The imaging by using a part of the X-ray detectors (23) and the movement to the imaging positions of other X-ray detectors (23) are parallel and alternately carried out. The image acquisition control mechanism (30) acquires the image data detected by the X-ray detectors (23), and a computing unit (70) reconstructs an image of the examination area by using the image data.
(FR)
L'invention porte sur un appareil d'examen aux rayons X pour examiner rapidement une zone d'examen prédéterminée d'un sujet devant être examiné. L'appareil d'examen aux rayons X (100) comprend une source de rayons X de balayage (10) pour émettre des rayons X, une unité d'entraînement de détecteur de rayons X (22) à laquelle des détecteurs de rayons X (23) sont fixés et qui entraîne indépendamment les détecteurs de rayons X (23), et un mécanisme de commande d'acquisition d'image (30) pour commander l'acquisition de données d'image à partir de l'unité d'entraînement de détecteur de rayons X (22) et des détecteurs de rayons X (23). La source de rayons X de balayage (10) émet des rayons X tout en déplaçant le point focal de rayons X de la source de rayons X vers les positions d'origine d'une émission de rayons X déterminée de telle sorte que les rayons X sont transmis à travers la zone d'examen prédéterminée de l'objet (20) et entrent dans les détecteurs de rayons X (23). L'imagerie à l'aide d'une partie des détecteurs de rayons X (23) et le mouvement vers les positions d'imagerie d'autres détecteurs de rayons X (23) sont parallèles et réalisés de façon alternée. Le mécanisme de commande d'acquisition d'image (30) acquiert les données d'image détectées par les détecteurs de rayons X (23), et une unité de calcul (70) reconstruit une image de la zone d'examen à l'aide des données d'image.
(JA)
 検査対象物の所定の検査エリアを高速に検査することができるX線検査装置を提供する。X線検査装置(100)は、X線を出力する走査型X線源(10)と、複数のX線検出器(23)が取り付けられ、複数のX線検出器(23)を独立に駆動可能なX線検出器駆動部(22)と、X線検出器駆動部(22)やX線検出器(23)からの画像データの取得を制御するための画像取得制御機構(30)を備える。走査型X線源(10)は、各X線検出器(23)について、X線が検査対象(20)の所定の検査エリアを透過して各X線検出器(23)に対して入射するように設定されたX線の放射の起点位置の各々に、X線源のX線焦点位置を移動させてX線を放射する。X線検出器(23)の一部についての撮像と他の一部についての撮像位置への移動が並行して交互に実行される。画像制御取得機構(30)はX線検出器(23)が検出した画像データを取得し、演算部(70)はその画像データに基づき検査エリアの画像の再構成を行なう。
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