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1. (WO2009065040) SYSTEMS AND METHODS FOR PROVIDING POWER TO A DEVICE UNDER TEST
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/065040    International Application No.:    PCT/US2008/083642
Publication Date: 22.05.2009 International Filing Date: 14.11.2008
IPC:
G01R 31/02 (2006.01)
Applicants: THE TRUSTEES OF COLUMBIA UNIVERSITY IN THE CITY OF NEW YORK [US/US]; 412 Low Memorial Library, MC 4308, 535 West 116th Street, New York, NY 10027 (US) (For All Designated States Except US).
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US/US]; New Orchard Road, Armonk, NY 10504 (US) (For All Designated States Except US).
KINGET, Peter [US/US]; (US) (For US Only).
PLOUCHART, Jean-olivier [FR/US]; (US) (For US Only)
Inventors: KINGET, Peter; (US).
PLOUCHART, Jean-olivier; (US)
Agent: BYRNE, Matthew, T.; Byrne Poh LLP, 11 Broadway, Ste. 865, New York, NY 10004 (US)
Priority Data:
60/987,860 14.11.2007 US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR PROVIDING POWER TO A DEVICE UNDER TEST
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR FOURNIR DU COURANT À UN DISPOSITIF EN COURS DE TEST
Abstract: front page image
(EN)Systems and methods for providing power to a device under test are prcn ided. In some embodiments, systems for providing power to a device under test are provided, the systems comprising a power source for providing an alternating current, a probe having a probe inductor coupled to the power source; and a device under test having a device inductor magnetically coupled to the probe inductor, and having a circuit to be tested that receives power produced in the device inductor, In some embodiments, dev ices that receive power from a probe having an inductor that is coupled to. an alternating current power source are provided, the devices comprising: a device inductor magnetically coupled to the probe inductor; and a circuit to be tested that receives power produced in the device inductor.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés pour fournir du courant à un dispositif en cours de test. Dans certains modes de réalisation, l'invention concerne des systèmes permettant de fournir du courant à un dispositif en cours de test, les systèmes comprenant une source de courant pour fournir un courant alternatif, une sonde ayant un inducteur de sonde couplé à la source de courant. Un dispositif en cours de test comporte un inducteur de dispositif couplé de manière magnétique à l'inducteur de sonde, et comporte un circuit à tester qui reçoit un courant produit dans l'inducteur de dispositif. Dans certains modes de réalisation, l'invention concerne des dispositifs qui reçoivent du courant depuis une sonde ayant un inducteur qui est couplé à une source de courant alternatif, les dispositifs comprenant : un inducteur de dispositif couplé de manière magnétique à l'inducteur de sonde ; et un circuit à tester qui reçoit du courant produit dans l'inducteur de dispositif.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)