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1. (WO2009064495) SCHLIEREN-TYPE RADIOGRAPHY USING A LINE SOURCE AND FOCUSING OPTICS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/064495    International Application No.:    PCT/US2008/012847
Publication Date: 22.05.2009 International Filing Date: 17.11.2008
IPC:
A61B 6/08 (2006.01)
Applicants: FULLER, Michael, Keith [US/US]; (US)
Inventors: FULLER, Michael, Keith; (US)
Priority Data:
11/985,649 17.11.2007 US
Title (EN) SCHLIEREN-TYPE RADIOGRAPHY USING A LINE SOURCE AND FOCUSING OPTICS
(FR) RADIOGRAPHIE DE TYPE SCHLIEREN AU MOYEN D'UNE SOURCE LINÉAIRE ET D'OPTIQUES DE FOCALISATION
Abstract: front page image
(EN)A system for observing the internal features of an object, such that the object's internal absorption, refraction, reflection and/or scattering properties are visualized, is disclosed. An embodiment may include one or more beams of penetrating radiation, an object with internal features to be imaged, a single or an array of radiation optics, and a detection system for capturing the resultant shadowgraph images. The beam(s) of radiation transmitted through the object typically originate from a line-shaped source(s), which has high spatial purity along the narrow axis, and low spatial purity in the perpendicular, long axis. In the long axis, radiation optic(s) capture and focus diverging rays exiting from the object to form a high resolution image of the object, without which optic(s) the shadowgraph would have blurring in this axis. Such shadowgraph is naturally well defined in the opposite axis of narrow beam origin and can reveal an object's refraction, reflection and/or scattering properties along that axis. An embodiment may also include discriminators (stops, phase shifters, analyzer crystals, etc.) in the beam exiting the object. An embodiment may also include mechanisms for scanning whereby a two-dimensional or three-dimensional image of a large object is made possible. An embodiment may also include an image of an object's internal features being derived from an analysis of the radiation and/or radiation waveform exiting the object.
(FR)L'invention concerne un système servant à observer les caractéristiques internes d'un objet, telles que les propriétés internes d'absorption, de réfraction, de réflexion et/ou de diffusion d'un objet. Un mode de réalisation peut comprendre un ou plusieurs faisceaux de rayonnement pénétrant, un objet ayant des caractéristiques internes à imager, une seule optique de rayonnement ou un réseau d'optiques de rayonnement, et un système de détection pour capturer les images radiographiques résultantes. Le ou les faisceaux de rayonnement transmis à travers l'objet proviennent habituellement d'une ou plusieurs sources linéaires, dont la pureté spatiale est élevée le long de l'axe étroit et basse le long de l'axe long perpendiculaire. Sur l'axe long, le ou les optiques de rayonnement capturent et focalisent les rayons divergeant sortant de l'objet pour former une image à haute résolution de l'objet, sans laquelle ou lesquelles la radiographie serait floue sur cet axe. Cette radiographie est naturellement bien définie sur l'axe opposé de l'origine du faisceau étroit et peut révéler les propriétés de réfraction, de réflexion et/ou de diffusion d'un objet le long de cet axe. Un mode de réalisation peut également comprendre des discriminateurs (diaphragmes, déphaseurs, cristaux d'analyseur, etc.) dans le faisceau sortant de l'objet. Un mode de réalisation peut également comprendre des mécanismes de balayage permettant l'obtention d'une image bidimensionnelle ou tridimensionnelle d'un gros objet. Un mode de réalisation peut également comprendre une image des caractéristiques internes d'un objet obtenue à partir d'une analyse du rayonnement et/ou de la forme d'onde de rayonnement sortant de l'objet.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)