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1. (WO2009063045) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TIME-MODULATED SPECTRA
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/063045    International Application No.:    PCT/EP2008/065547
Publication Date: 22.05.2009 International Filing Date: 14.11.2008
IPC:
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/28 (2006.01), G01J 3/44 (2006.01), G01N 21/65 (2006.01)
Applicants: GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANALYTISCHEN WISSENSCHAFTEN E.V. [DE/DE]; Bunsen-Kirchhoff-Strasse 11, 44139 Dortmund (DE) (For All Designated States Except US).
DECKERT, Volker [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HEMING, Richard [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: DECKERT, Volker; (DE).
HEMING, Richard; (DE)
Agent: WEISSE, Renate; Bleibtreustrasse 38, 10623 Berlin (DE)
Priority Data:
10 2007 000 988.9 15.11.2007 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG ZEITLICH MODULIERTER SPEKTREN
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING TIME-MODULATED SPECTRA
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE SPECTRES À MODULATION TEMPORELLE
Abstract: front page image
(DE)Verfahren zur Messung zeitlich modulierter Wellenlängenspektren mittels eines Charge-Coupled-Device Detektors (10) mit wenigstens drei Zeilen (16), die aus einer Vielzahl von Bildelementen (12) bestehen, gekennzeichnet durch die Schritte: Erzeugen eines modulierten Probensignals (46); Spektrales Zerlegen des modulierten Probensignals; Beleuchten einer Belichtungszeile (24) des Detektors mit dem modulierten Probenspektrum (50); wiederholtes Verschieben und Zurückschieben der in der Belichtungszeile (24) erzeugten Ladung in eine andere Zeile (70, 71) des Detektors und zurück auf die Belichtungszeile, wobei die Wiederholfrequenz der Verschiebung mit der Modulationsfrequenz des von der Probe (28, 30) erzeugten Signals synchronisiert ist; und Auslesen des Detektors.
(EN)Method for measuring time-modulated wavelength spectra using a charged-coupled detector device (10) with at least three lines (16) which comprise a large number of pixels (12), characterized by the steps of: generating a modulated sample signal (46); spectral decomposition of the modulated sample signal; illuminating an exposure line (24) of the detector with the modulated sample spectrum (50); repeated shifting and returning of the charge generated in the exposure line (24) into another line (70, 71) of the detector, and back onto the exposure line, wherein the repetition frequency of the movement is synchronized with the modulation frequency of the signal generated by the sample (28, 30); and reading the detector.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de spectres de longueurs d'ondes à modulation temporelle au moyen d'un détecteur à dispositif à couplage de charges (10), composé d'au moins trois lignes (16) constituées d'une pluralité de pixels (12). Le procédé est caractérisé en ce qu'il comporte les étapes suivantes: production d'un signal d'échantillon modulé (46); décomposition spectrale du signal d'échantillon modulé; irradiation d'une ligne d'exposition (24) du détecteur avec le spectre d'échantillon modulé (50); décalage et retour en arrière répétés de la charge produite dans la ligne d'exposition (24), vers une autre ligne (70, 71) du détecteur, puis vers la ligne d'exposition, la fréquence de répétition du décalage étant synchronisée avec la fréquence de modulation du signal produit par l'échantillon (28, 30); et lecture du détecteur.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)