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1. (WO2009061729) AUTOMATIC OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/061729    International Application No.:    PCT/US2008/082349
Publication Date: 14.05.2009 International Filing Date: 04.11.2008
IPC:
G01N 21/03 (2006.01), G01N 21/59 (2006.01), G01N 35/00 (2006.01)
Applicants: HACH COMPANY [US/US]; 5600 Lindbergh Drive P.O. Box 389 Loveland, Colorado 80539 (US) (For All Designated States Except US).
PALUMBO, Perry, A. [US/US]; (US) (For US Only).
HARMON, Brian [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: PALUMBO, Perry, A.; (US).
HARMON, Brian; (US)
Agent: JANSEN, Gregg, L.; The Ollila Law Group LLC 2569 Park Lane, Suite 202 Lafayette, Colorado 80026 (US)
Priority Data:
60/986,740 09.11.2007 US
Title (EN) AUTOMATIC OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE AUTOMATIQUE
Abstract: front page image
(EN)An automatic optical measurement system (100) is provided. The measurement system (100) includes a sample vial (10) and an automatic optical measurement apparatus (90) configured to receive the sample vial (10). The automatic optical measurement apparatus (90) is configured to detect a presence of the sample vial (10) in the automatic optical measurement apparatus (90) and measure a light intensity of light substantially passing through the sample vial (10) if the sample vial (10) is present. The measured light intensity is related to sample material properties of a sample material within the sample vial (10).
(FR)L'invention concerne un système de mesure optique automatique (100). Le système de mesure (100) comprend une fiole d'échantillon (10) et un appareil de mesure optique automatique (90) configuré pour recevoir la fiole d'échantillon (10). L'appareil de mesure optique automatique (90) est configuré pour détecter la présence de la fiole d'échantillon (10) dans l'appareil de mesure optique automatique (90), et pour mesurer une intensité lumineuse d'une lumière passant sensiblement à travers la fiole d'échantillon (10) si celle-ci est présente. L'intensité lumineuse mesurée est liée aux propriétés de matériau d'échantillon d'un matériau d'échantillon dans la fiole d'échantillon (10).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)