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1. (WO2009060041) OPTICAL SENSOR FOR MEASURING THE DEFORMATION WITH TIME OF A DEFORMABLE PLANAR STRUCTURE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/060041    International Application No.:    PCT/EP2008/065086
Publication Date: 14.05.2009 International Filing Date: 06.11.2008
IPC:
G01B 11/16 (2006.01), G01B 11/24 (2006.01), H01Q 3/26 (2006.01)
Applicants: THALES [FR/FR]; 45 rue de Villiers, F-92200 Neuilly Sur Seine (FR) (For All Designated States Except US).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel-Ange, F-75016 Paris (FR) (For All Designated States Except US).
MERLET, Thomas [FR/FR]; (FR) (For US Only).
RENAULT, Michel [FR/FR]; (FR) (For US Only).
GRANGER, Pierre [FR/FR]; (FR) (For US Only).
LESUEUR, Guillaume [FR/FR]; (FR) (For US Only).
GIRARD, Sylvain [FR/FR]; (FR) (For US Only).
GILLES, Hervé [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: MERLET, Thomas; (FR).
RENAULT, Michel; (FR).
GRANGER, Pierre; (FR).
LESUEUR, Guillaume; (FR).
GIRARD, Sylvain; (FR).
GILLES, Hervé; (FR)
Agent: LUCAS, Laurent; Immeuble "Visium", 22, Avenue Aristide Briand, F-94117 Arcueil Cedex (FR)
Priority Data:
0707858 09.11.2007 FR
Title (EN) OPTICAL SENSOR FOR MEASURING THE DEFORMATION WITH TIME OF A DEFORMABLE PLANAR STRUCTURE
(FR) CAPTEUR OPTIQUE POUR MESURER LA DEFORMATION AU COURS DU TEMPS D'UNE STRUCTURE PLANE DEFORMABLE
Abstract: front page image
(EN)The invention pertains to the measurement of the deformation of large-size planar surfaces exposed to environmental conditions that may impair their flatness. The measuring device of the invention includes a laser optical source that irradiates a conical mirror provided on the surface to be measured, at a reference point arranged so as to define an optical reference plane having a known orientation relative to the antenna plane. It also comprises lineic optical sensors that are transparent to radio-electric waves and are distributed on the antenna surface, each sensor being adapted so as to intercept the optical beam defining the reference plane and to send to processing means an optical signal based on the area of the sensor having intercepted the optical beam. The position variation of the interception point on the sensor is used for measuring the position variation relative to the optical plane of the surface point on which it is positioned. The invention can particularly be used for the measurement of mechanical deformations of the radiating surface of large-size electronic-scanning radar antennas.
(FR)La présente invention concerne les mesures relatives à la déformation de surfaces planes de grandes dimensions exposées à des conditions environnementales susceptibles d'altérer leur planéité. Le dispositif de mesure selon l'invention comporte une source optique laser éclairant un miroir conique disposé sur la surface à mesurer, en un point de référence, agencé pour former un plan optique de référence dont l'orientation par rapport au plan de l'antenne est connue. Il comporte également des capteurs optiques linéiques, transparents aux ondes radioélectriques, répartis sur la surface de l'antenne, chaque capteur étant configuré pour intercepter le faisceau optique matérialisant le plan de référence et pour fournir à des moyens de traitement, un signal optique fonction de la zone du capteur ayant intercepté le faisceau optique. La variation de position du point d'interception sur le capteur permet de mesurer la variation de position, par rapport au plan optique, du point de la surface sur lequel il est positionné. Elle s'applique plus particulièrement aux mesures des déformations mécaniques affectant la surface rayonnante d'antennes radar à balayage électronique de grande dimension.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)