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1. (WO2009059207) METHODS FOR ANALYZING SCAN CHAINS, AND FOR DETERMINING NUMBERS OR LOCATIONS OF HOLD TIME FAULTS IN SCAN CHAINS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/059207    International Application No.:    PCT/US2008/082088
Publication Date: 07.05.2009 International Filing Date: 31.10.2008
IPC:
H03K 19/00 (2006.01)
Applicants: VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD. [SG/SG]; No. 1 Yishun Avenue 7 Lot 1937C, 1935X, 1975P Singapore 768923 (SG) (For All Designated States Except US).
CANNON, Stephen A. [US/US]; (US) (For US Only).
DOKKEN, Richard C. [US/US]; (US) (For US Only).
CROUCH, Alfred L. [US/US]; (US) (For US Only).
WINBLAD, Gary A. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: CANNON, Stephen A.; (US).
DOKKEN, Richard C.; (US).
CROUCH, Alfred L.; (US).
WINBLAD, Gary A.; (US)
Agent: OSTERLOTH, Gregory W.; P.O. Box 8749 Denver, CO 80201 (US)
Priority Data:
11/931,847 31.10.2007 US
12/058,768 31.03.2008 US
Title (EN) METHODS FOR ANALYZING SCAN CHAINS, AND FOR DETERMINING NUMBERS OR LOCATIONS OF HOLD TIME FAULTS IN SCAN CHAINS
(FR) PROCÉDÉS D'ANALYSE DE CHAÎNES DE BALAYAGE ET DE DÉTERMINATION DU NOMBRE OU DE L'EMPLACEMENT DE DÉFAUTS DE TEMPS DE MAINTIEN DANS LES CHAÎNES DE BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN)An environmental variable of a scan chain is set to a value believed to cause a hold time fault, and a pattern is shifted through the scan chain. The pattern has a background pattern of at least n contiguous bits of a first logic state, followed by at least one bit of a second logic state, where n is the scan chain's length. The number of possible hold time faults in the scan chain is determined as a difference between i) a clock cycle when the at least one bit is expected to cause a transition at the scan chain's output, and ii) a clock cycle when the at least one bit actually causes a transition at the scan chain's output. If there is a value of the environmental variable at which the scan chain operates correctly, the location(s) of hold time faults can be determined.
(FR)L'invention concerne des procédés dans lesquels une variable d'environnement d'une chaîne de balayage est réglée à une valeur qui semble causer un défaut de temps de maintien, et on fait défiler un motif à travers la chaîne de balayage. Le motif comporte un motif d'arrière-plan d'au moins n bits contigus d'un premier état logique, suivis d'au moins un bit d'un deuxième état logique, n étant la longueur de la chaîne de balayage. Le nombre de défauts de temps de maintien possibles dans la chaîne de balayage est déterminé comme une différence entre i) un cycle d'horloge au cours duquel on s'attend à ce que le ou les bits provoque(nt) une transition au niveau de la sortie de la chaîne de balayage, et ii) un cycle d'horloge au cours duquel le ou les bits provoque(nt) effectivement une transition au niveau de la sortie de la chaîne de balayage. S'il existe une valeur de la variable d'environnement pour laquelle la chaîne de balayage fonctionne correctement, il est possible de déterminer l'emplacement ou les emplacements des défauts de temps de maintien.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)