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1. (WO2009058669) APPARATUS AND METHOD FOR DISPLAYING CHANGES IN STATISTICAL PARAMETERS IN A PROCESS CONTROL SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/058669    International Application No.:    PCT/US2008/081065
Publication Date: 07.05.2009 International Filing Date: 24.10.2008
IPC:
G06F 3/00 (2006.01), G06F 3/14 (2006.01), G06F 17/00 (2006.01)
Applicants: HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; Law Department AB/2B, 101 Columbia Road, Morristown, NJ 07962 (US) (For All Designated States Except US).
FOSLIEN, Wendy K. [US/US]; (US) (For US Only).
KOLAVENNU, Soumitri N. [IN/US]; (US) (For US Only).
MYLARASWAMY, Dinkar [IN/US]; (US) (For US Only).
REISING, Dal Vernon C. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: FOSLIEN, Wendy K.; (US).
KOLAVENNU, Soumitri N.; (US).
MYLARASWAMY, Dinkar; (US).
REISING, Dal Vernon C.; (US)
Agent: BEATUS, Carrie; Honeywell International Inc., Law Department AB/2B, 101 Columbia Road, Morristown, New Jersey 07962 (US)
Priority Data:
11/978,349 29.10.2007 US
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR DISPLAYING CHANGES IN STATISTICAL PARAMETERS IN A PROCESS CONTROL SYSTEM
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR AFFICHER DES CHANGEMENTS DE PARAMÈTRES STATISTIQUES DANS UN SYSTÈME DE COMMANDE DE PROCESSUS
Abstract: front page image
(EN)At least one statistical output associated with a process model and a rate of change associated with each statistical output is identified, such as by using historical data associated with the process model. The statistical outputs and the rates of change are used to generate a graphical display (216), such as a phase plane plot. Each point (220) in the display is based on one of the statistical outputs and its associated rate of change. The graphical display could include multiple portions (218a-218d), such as quadrants, and one of the portions can be selected and highlighted. The different portions of the graphical display may represent whether the process model is a poor fit to current conditions and approaching a better fit, a poor fit and approaching a poorer fit, a good fit and approaching a poorer fit, and a good fit and approaching a better fit.
(FR)Selon l'invention, au moins une sortie statistique associée à un modèle de processus et un taux de variation associé à chaque sortie de statistique sont identifiés, par exemple par utilisation de données d'historique associées au modèle de processus. La sortie statistique et les taux de variation sont utilisés pour générer un affichage graphique (216), tel qu'un tracée de plan de phase. Chaque point (220) dans l'affichage est basé sur l'une des sorties statistiques et son taux de variation associé. L'affichage graphique pourrait comprendre de multiples parties (218a-218d), telles que des cadrans, et l'une des parties peut être sélectionnée et mise en évidence. Les différentes parties de l'affichage graphique peuvent indiquer si le modèle de processus est un mauvais ajustement aux conditions courantes et s'approchant d'un meilleur ajustement, un mauvais ajustement et s'approchant d'un plus mauvais ajustement, un bon ajustement et s'approchant d'un plus mauvais ajustement, et un bon ajustement s'approchant d'un meilleur ajustement.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)