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1. (WO2009058197) TESTING OF ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/058197    International Application No.:    PCT/US2008/011888
Publication Date: 07.05.2009 International Filing Date: 17.10.2008
IPC:
H03M 1/10 (2006.01), H03M 3/00 (2006.01), H03M 1/12 (2006.01)
Applicants: EAGLE TEST SYSTEMS, INC. [US/US]; 2200 Millbrook Drive, Buffalo Grove, IL 60089 (US) (For All Designated States Except US).
ANDERSON, David [US/US]; (US) (For US Only).
WEIMER, Jack [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ANDERSON, David; (US).
WEIMER, Jack; (US)
Agent: SKALE, Andrew, D.; Mintz, Levin, Cohn, Ferris, Glovsky And Popeo P.C, 3580 Carmel Mountain Road, Suite 300, San Diego, CA 92130 (US)
Priority Data:
11/933,038 31.10.2007 US
Title (EN) TESTING OF ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS
(FR) TEST DE CONVERTISSEURS ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE
Abstract: front page image
(EN)Methods and apparatus, including computer program products, to test analog to digital converters, are disclosed. In general, data is received that characterizes a first digital code from a device under test at a first analog voltage of an analog signal generator and a second digital code being a digital code threshold, and a step size is generated for another test of the device by performing a calculation by a processor. The calculation may include multiplying a least significant bit size of the device with a difference of the first and second digital codes to generate a product, and dividing the product by a least significant bit size of the analog signal generator. The first digital code may be calculated from results from multiple subtests in the test, where each of the subtests includes multiple analog to digital conversions by the device at the first analog voltage.
(FR)L'invention porte sur des procédés et des appareils, y compris des programmes d'ordinateur, pour tester des convertisseurs analogique-numérique. De manière générale, des données sont reçues qui caractérisent un premier code numérique en provenance d'un dispositif testé à une première tension analogique d'un générateur de signal analogique et un second code numérique étant un seuil de code numérique, et une dimension de pas est générée pour un autre test du dispositif par exécution d'un calcul par un processeur. Le calcul peut comprendre la multiplication d'une taille de bit de poids faible du dispositif par une différence des premier et second codes numériques afin de générer un produit, et la division du produit par une taille de bit de poids faible du générateur de signal analogique. Le premier code numérique peut être calculé à partir de résultats provenant de multiples sous-tests dans le test, chacun des sous-tests comprenant de multiples conversions analogique-numérique par le dispositif à la première tension analogique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)