WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2009057778) FEATURE VALUE CANDIDATE GENERATING DEVICE AND FEATURE VALUE CANDIDATE GENERATING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/057778    International Application No.:    PCT/JP2008/069951
Publication Date: 07.05.2009 International Filing Date: 31.10.2008
IPC:
A61B 5/05 (2006.01), G06N 99/00 (2010.01)
Applicants: OMRON Corporation [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP) (For All Designated States Except US).
YONEDA, Mitsuhiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
NAKAJIMA, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TSUCHIYA, Naoki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TASAKI, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: YONEDA, Mitsuhiro; (JP).
NAKAJIMA, Hiroshi; (JP).
TSUCHIYA, Naoki; (JP).
TASAKI, Hiroshi; (JP)
Agent: SERA, Kazunobu; Acropolis 21 Building 6th floor, 4-10, Higashi Nihonbashi 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030004 (JP)
Priority Data:
2007-285178 01.11.2007 JP
Title (EN) FEATURE VALUE CANDIDATE GENERATING DEVICE AND FEATURE VALUE CANDIDATE GENERATING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE PRODUCTION DE CANDIDATS DE VALEURS CARACTÉRISTIQUES ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE CANDIDATS DE VALEURS CARACTÉRISTIQUES
(JA) 特徴量候補作成装置および特徴量候補作成方法
Abstract: front page image
(EN)A feature value candidate generating device comprises storage means storing feature values of plural types extracted from samples, index value calculating means for calculating the index values obtained by normalizing the number of feature values with the number of samples for each feature value, an evaluation subject selecting means for selecting a combination of feature values to be evaluated from the feature values of the plural types, evaluating means for evaluating the combination of the selected feature values as evaluation subjects by judging whether or not the uniformity of the frequency distribution of the index values of the feature values meets a predetermined criterion, and candidate determining means for determining the combination of the feature values evaluated as meeting the predetermined criterion as feature value candidates given to a model making device.
(FR)L'invention porte sur un dispositif de production de candidats de valeurs caractéristiques qui comprend un moyen de mémorisation mémorisant des valeurs caractéristiques de plusieurs types extraits d'échantillons, un moyen de calcul de valeurs d'indices destiné à calculer les valeurs d'indices obtenues par normalisation du nombre de valeurs caractéristiques avec le nombre d'échantillons pour chaque valeur caractéristique, un moyen de sélection d'objet d'évaluation destiné à sélectionner une combinaison de valeurs caractéristiques à évaluer parmi les valeurs caractéristique des différents types, un moyen d'évaluation destiné à évaluer la combinaison des valeurs caractéristiques sélectionnées en tant qu'objets d'évaluation par évaluation du point de savoir si l'uniformité de la distribution de fréquence des valeurs d'indices des valeurs caractéristiques satisfait ou non un critère prédéterminé, et un moyen de détermination de candidats destiné à déterminer la combinaison des valeurs caractéristiques évaluées comme satisfaisant au critère prédéterminé en tant que candidats de valeurs caractéristiques appliqués à un dispositif de fabrication de modèle.
(JA) 特徴量候補作成装置が、複数種類の特徴量について、複数のサンプルのそれぞれから抽出された特徴量の値を記憶している記憶手段と、特徴量の値の種類の数をサンプルの数で正規化することにより得られる指標値を、複数種類の特徴量のそれぞれについて算出する指標値算出手段と、複数種類の特徴量から評価対象とする特徴量の組み合わせを選択する評価対象選択手段と、評価対象として選択された特徴量の組み合わせについて、各特徴量の指標値の度数分布の一様性が所定の基準を満たすか否かを評価する評価手段と、評価手段により所定の基準を満たすと評価された特徴量の組み合わせを、モデル作成装置に対して与える特徴量候補に決定する候補決定手段と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)