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1. (WO2009057476) DEFLECTION ACQUIRING METHOD, DEFLECTION COMPUTING DEVICE, REGULATED LOAD ACQUIRING METHOD, AND REGULATED LOAD COMPUTING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/057476    International Application No.:    PCT/JP2008/069012
Publication Date: 07.05.2009 International Filing Date: 21.10.2008
IPC:
B30B 15/28 (2006.01), B30B 15/00 (2006.01)
Applicants: IHI Corporation [JP/JP]; 1-1, Toyosu 3-chome, Koto-ku Tokyo 1358710 (JP) (For All Designated States Except US).
SHIMADA, Takahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
HAYASHI, Mitsuaki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
HAYASAKA, Kumiko [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SHIMADA, Takahiro; (JP).
HAYASHI, Mitsuaki; (JP).
HAYASAKA, Kumiko; (JP)
Agent: HOTTA, Minoru; ASA INTERNATIONAL PATENT FIRM, 4F, Kenchiku-Kaikan, 26-20, Shiba 5-chome, Minato-ku Tokyo 1080014 (JP)
Priority Data:
2007-285129 01.11.2007 JP
Title (EN) DEFLECTION ACQUIRING METHOD, DEFLECTION COMPUTING DEVICE, REGULATED LOAD ACQUIRING METHOD, AND REGULATED LOAD COMPUTING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE DÉVIATION, DISPOSITIF DE CALCUL DE DÉVIATION, PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE CHARGE RÉGULÉE ET DISPOSITIF DE CALCUL DE CHARGE RÉGULÉE
(JA) たわみ取得方法とたわみ演算装置および調節荷重取得方法と調節荷重演算装置
Abstract: front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a method for acquiring by computation the deflection of a die supporting member of a simulation press. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] A deflection acquiring method comprises a measuring step (S1) of measuring the strains in positions of a die supporting member by means of a strain gauge when a work is pressed, a setting step (S2) of presetting the relation between the strains and the load exerted on the die supporting member when the work is pressed, a load computing step (S3) of allowing a load computing device to compute the value of the load according to the measured strain values and the preset relation, and a deflection computing step (S4) of allowing a deflection computing device to compute the deflection of the die supporting member from the load value.
(FR)L'invention a pour but de proposer un procédé d'acquisition par le calcul de la déviation d'un élément de support de matrice d'une presse de simulation. A cette fin, la présente invention se rapporte à un procédé d'acquisition de déviation comprenant une étape de mesure (S1) consistant à mesurer les contraintes dans des positions d'un élément de support de matrice à l'aide d'une jauge de contrainte lorsqu'une pièce de fabrication est pressée, une étape de définition (S2) consistant à prédéfinir la relation entre les contraintes et la charge exercée sur l'élément de support de matrice lorsque la pièce de travail est pressée, une étape de calcul de charge (S3) consistant à permettre à un dispositif de calcul de charge de calculer la valeur de la charge selon les valeurs de contrainte mesurées et la relation prédéfinir, et une étape de calcul de déviation (S4) consistant à permettre à un dispositif de calcul de déviation de calculer la déviation de l'élément de support de matrice à partir de la valeur de charge.
(JA)【課題】模擬対象プレスにおける金型支持部材のたわみを演算して取得する方法を提供する。 【解決手段】金型支持部材の複数の位置におけるプレス加工時の歪みを、歪み計測器で計測する計測ステップS1と、プレス加工時における複数の位置での歪みとプレス加工時に金型支持部材に作用する荷重との関係を予め設定する設定ステップS2と、計測した歪み値および設定した関係に基づいて、金型支持部材に作用する荷重値を荷重計算装置で演算する荷重演算ステップS3と、演算した荷重値から金型支持部材のたわみ量をたわみ計算装置で演算するたわみ演算ステップS4と、を有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)