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1. (WO2009056205) CONFIGURATION OF A LASER SCANNING MICROSCOPE FOR RASTER IMAGE CORRELATION SPECTROSCOPY MEASUREMENT AND METHOD FOR CONDUCTING AND EVALUATING SUCH A MEASUREMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/056205    International Application No.:    PCT/EP2008/008271
Publication Date: 07.05.2009 International Filing Date: 30.09.2008
IPC:
G02B 21/00 (2006.01)
Applicants: CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena (DE) (For All Designated States Except US).
WAGNER-CONRAD, Stephan [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HECHT, Frank [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WEISSHART, Klaus [DE/DE]; (DE) (For US Only).
NETZ, Ralf [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: WAGNER-CONRAD, Stephan; (DE).
HECHT, Frank; (DE).
WEISSHART, Klaus; (DE).
NETZ, Ralf; (DE)
Agent: HAMPE, Holger; Carl Zeiss Jena GmbH, Carl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena (DE)
Priority Data:
10 2007 052 551.8 30.10.2007 DE
Title (DE) KONFIGURATION EINES LASER-SCANNING-MIKROSKOPS FÜR EINE RASTERBILDKORRELATIONSSPEKTROSKOPIEMESSUNG SOWIE VERFAHREN ZUR DURCHFÜHRUNG UND AUSWERTUNG EINER SOLCHEN MESSUNG
(EN) CONFIGURATION OF A LASER SCANNING MICROSCOPE FOR RASTER IMAGE CORRELATION SPECTROSCOPY MEASUREMENT AND METHOD FOR CONDUCTING AND EVALUATING SUCH A MEASUREMENT
(FR) CONFIGURATION D'UN MICROSCOPE À BALAYAGE LASER POUR MESURE DE SPECTROSCOPIE À CORRÉLATION D'IMAGES MATRICIELLES ET PROCÉDÉ POUR EFFECTUER ET ÉVALUER UNE TELLE MESURE
Abstract: front page image
(DE)1.1. Verfahren zur Konfiguration eines Laser-Scanning-Mikroskops für eine Rasterbildkorrelationsspektroskopiemessung sowie Verfahren zur Durchführung und Auswertung einer solchen Messung 2.1. Die manuelle Einstellung der Abtastparameter für eine Rasterbildkorrelationsspektroskopiemessung (RICS) ist aufwendig, weil die Auswirkungen einer Einstellung eines bestimmten Parameters durch die komplexe Wechselwirkung zwischen den verschiedenen Parametern nicht offensichtlich sind und auch von den physikalisch-technischen Eigenschaften des Mikroskops abhängen. Mit einem verbesserten Konfigurationsverfahren sollen mathematische Transportmodelle mit geringem Fehler an mittels abtastender Fluoreszenzspektroskopie ermittelte Korrelationen angepasst werden können. Mit verbesserten Verfahren zum Durchführen oder zum Auswerten einer RICS-Messung soll die zu speichernde Datenmenge reduziert beziehungsweise sollen RICS-Korrelationen mit hoher statistischer Qualität in kurzer Zeit ermittelt werden können. 2.2. Erfindungsgemäß wird für eine Rasterbildkorrelationsspektroskopiemessung ein Bestwert für einen Abtastparameter ermittelt und für einen späteren Abtastvorgang an einer Probe vorgegeben. Zum Durchführen oder Auswerten einer RICS-Messung werden ausschließlich in einem Probenbereich, innerhalb dessen sich eine Pixelzeit (ΔP) längs einer harmonisch angesteuerten Abtastachse (X) um weniger als oder höchstens um einen vorgegebenen oder vorgebbaren Wert ändert, Abtastwerte aufgenommen beziehungsweise eine Korrelation ermittelt. 2.3. Die Erfindung wird vorzugsweise bei Laser-Scanning-Mikroskopen verwendet.
(EN)1.1. The invention relates to a method for configuration of a laser scanning microscope for raster image correlation spectroscopy measurement and a method for conducting and evaluating such a measurement 2.1. The manual adjustment of the scanning parameters for a raster image correlation spectroscopy measurement (RICS) is expensive because the effects of an adjustment of a certain parameter are not obvious due to the complex interaction between the various parameters and also depend on the physical and technical properties of the microscope. Using an improved configuration method, mathematical transport models should be adaptable with a low incidence of errors to correlations determined by means of scanning fluorescence spectroscopy. Using an improved method for conducting or evaluating an RICS measurement, the amount of data to be stored should be reduced and it should be possible to detect RICS correlations with a higher statistical quality in a short time. 2.2. According to the invention, a best value is determined for a scanning parameter for a raster image correlation spectroscopy measurement and simulated to a sample for a later scanning process. In order to conduct or evaluate an RICS measurement, scan values are captured and a correlation is determined, only in a sample area inside which a pixel time (ΔP) changes along a harmonically controlled scanning axis (X) by less than or at the most by a predetermined or predeterminable value. 2.3. The invention is preferably used in laser scanning microscopes.
(FR)Le réglage manuel des paramètres de détection pour une mesure de spectroscopie à corrélation d'images matricielles (RICS) est nécessaire du fait que les effets du réglage d'un paramètre déterminé ne sont pas évident en raison de l'interaction complexe entre les différents paramètres, et dépendent également des propriétés physico-techniques du microscope. Une méthode de configuration améliorée doit permettre d'adapter des modèles de transport mathématiques à erreur faible, à des corrélations déterminées par spectroscopie de détection par fluorescence. Une méthode améliorée de réalisation ou d'évaluation d'une mesure RICS doit permettre une réduction des quantités de données à enregistrer ou une détermination des corrélations RICS en un temps inférieur et avec une qualité statistique supérieure. Selon l'invention, pour une mesure RICS, une valeur idéale est déterminée pour un paramètre de détection, et prédéfinie pour un processus de détection ultérieur sur un échantillon. Pour réaliser ou évaluer une mesure RICS, des valeurs de détection sont acquises ou une corrélation est déterminée exclusivement dans une zone d'échantillon dans laquelle un temps pixel (ΔP) varie d'une valeur inférieure à ou égale au maximum à une valeur prédéterminée ou prédéterminable le long d'un axe de détection (X) à commande harmonique. L'invention s'applique de préférence à des microscopes à balayage laser.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)