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1. (WO2008103747) COMPACT SCANNED ELECTRON-BEAM X-RAY SOURCE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/103747    International Application No.:    PCT/US2008/054446
Publication Date: 28.08.2008 International Filing Date: 20.02.2008
Chapter 2 Demand Filed:    19.12.2008    
IPC:
G01N 23/00 (2006.01)
Applicants: L-3 COMMUNICATIONS CORPORATION [US/US]; 960 Industrial Road, San Carlos, California 94070 (US) (For All Designated States Except US).
KIRSHNER, Mark Frederick [US/US]; (US) (For US Only).
WILSEN, Craig Bisset [US/US]; (US) (For US Only).
KOWALCZYK, Richard Donald [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: KIRSHNER, Mark Frederick; (US).
WILSEN, Craig Bisset; (US).
KOWALCZYK, Richard Donald; (US)
Agent: BERLINER, Brian M.; O'Melveny & Myers LLP, 400 South Hope Street, Los Angeles, California 90071 (US)
Priority Data:
60/890,986 21.02.2007 US
12/033,836 19.02.2008 US
Title (EN) COMPACT SCANNED ELECTRON-BEAM X-RAY SOURCE
(FR) SOURCE COMPACTE DE RAYONS X DE FAISCEAUX ÉLECTRONIQUES SCANNÉS
Abstract: front page image
(EN)A compact, reliable scanning electron-beam x-ray source achieves reduced complexity and cost. In particular, the x-ray source includes an electron beam that is propagated parallel to an x-ray target and is swept across the target in response to a moving magnetic cross field. Rather than scanning the beam by deflecting it about a single point, the point of deflection is translated along the target length, dramatically reducing the volume of the device. The magnetic cross field is translated along the target length using either mechanical systems to move permanent magnets, or electrical systems to energize an array of electromagnets.
(FR)L'invention concerne une source compacte fiable de rayons X de faisceaux électroniques de balayage présentant une complexité et des coûts réduits. En particulier, la source de rayons X de l'invention comprend un faisceau d'électrons se propageant parallèlement à une cible de rayons X et traversant la cible en la balayant sur toute sa longueur en réaction à un champ magnétique croisé en mouvement. Plutôt que de scanner le faisceau en le défléchissant autour d'un point unique, le point de déflexion subit une translation sur toute la longueur de la cible, ce qui permet de réduire considérablement le volume du dispositif. Le champ magnétique croisé subit une translation sur toute la longueur de la cible, soit à l'aide de systèmes mécaniques permettant de déplacer des aimants permanents, soit à l'aide de systèmes électriques permettant de mettre un ensemble d'électroaimants sous tension.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)