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1. (WO2008103619) TEST FIXTURE AND METHOD FOR CIRCUIT BOARD TESTING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/103619    International Application No.:    PCT/US2008/054180
Publication Date: 28.08.2008 International Filing Date: 15.02.2008
IPC:
G01R 31/02 (2006.01)
Applicants: BARTHOLOMEW, Mark, R. [US/US]; (US).
LEONARD, Richard [US/US]; (US).
WOHLHIETER, Thomas [US/US]; (US)
Inventors: BARTHOLOMEW, Mark, R.; (US).
LEONARD, Richard; (US).
WOHLHIETER, Thomas; (US)
Agent: GREEN, Kenneth_; 8244 Painter Ave., Whittier, California 90602 (US)
Priority Data:
11/710,020 23.02.2007 US
Title (EN) TEST FIXTURE AND METHOD FOR CIRCUIT BOARD TESTING
(FR) GABARIT D'ESSAI ET PROCÉDÉ D'ESSAI DE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ
Abstract: front page image
(EN)A Printed Circuit Board (18) (PCB) test fixture includes flex sensors (12) for monitoring the flex (or distortion) of the PCB (18) during testing. The PCB (18) is positioned above irregular array of test probes (24). The test probes (24) are aligned with electrical test points on the PCB (18). The PCB (18) is then pressed downward against the test probes (24) by an irregular array of pushers (16). The positions of the pushers (16) are generally specified by a PCB manufacturer to avoid PCB elements and the positions of the test probes (24) are generally specified by the PCB manufacturer to obtain desired signals.
(FR)La présente invention concerne un gabarit d'essai de carte de circuit imprimé (18) comportant des capteurs de flexion (12) pour contrôler la flexion (ou distorsion) de la carte de circuit imprimé (18) lors de l'essai. La carte de circuit imprimé (18) est positionnée au-dessus d'un réseau non uniforme de sondes d'essai (24). Les sondes d'essai (24) sont alignées sur des points d'essai électriques de la carte de circuit imprimé (18). La carte de circuit imprimé (18) est ensuite poussée et comprimée vers le bas contre les sondes d'essai (24) par un réseau non uniforme de poussoirs (16). Les positions des poussoirs (16) sont généralement spécifiées par un fabricant de cartes de circuit imprimé pour éviter les éléments de carte de circuit imprimé et les positions des sondes d'essai (24) sont généralement spécifiées par le fabricant de cartes de circuit imprimé pour obtenir des signaux souhaités.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)