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1. (WO2008101732) OPTICAL MEASURING INSTRUMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/101732    International Application No.:    PCT/EP2008/001468
Publication Date: 28.08.2008 International Filing Date: 25.02.2008
Chapter 2 Demand Filed:    23.12.2008    
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: ESE EMBEDDED SYSTEM ENGINEERING GMBH [DE/DE]; Ludwigshafener Strasse 29, 78333 Stockach (DE) (For All Designated States Except US).
GRULER, Roman [DE/DE]; (DE) (For US Only).
FAULSTICH, Konrad [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: GRULER, Roman; (DE).
FAULSTICH, Konrad; (DE)
Agent: DEISSLER, Michael; Hössle Kudlek & Partner, P.O. Box 10 23 38, 70019 Stuttgart (DE)
Priority Data:
07003808.8 23.02.2007 EP
Title (EN) OPTICAL MEASURING INSTRUMENT
(FR) INSTRUMENT DE MESURE OPTIQUE
Abstract: front page image
(EN)The invention provides for an optical measuring instrument and measuring device. The optical measuring instrument for investigating a specimen contained in a sample comprises at least one source for providing at least one electromagnetic beam intended to irradiate the sample and to interact with the specimen within the sample, at least one sensor for detecting an output of the interaction between the specimen and the electromagnetic beam, an integrally formed mechanical bench for the optical and electronic components, a sample holder for holding the sample, wherein the at least one source, the at least one sensor, and the mechanical bench are integrated in one monolithic optoelectronic module and the sample holder can be connected to this module.
(FR)L'invention concerne un instrument de mesure optique et un dispositif de mesure optique. L'instrument de mesure optique permet de rechercher un spécimen contenu dans un échantillon et comporte au moins une source pour fournir au moins un faisceau électromagnétique destiné à irradier l'échantillon et à interagir avec le spécimen à l'intérieur de l'échantillon ; au moins un détecteur pour détecter une sortie de l'interaction entre le spécimen et le faisceau électromagnétique ; un banc mécanique formé d'un seul tenant pour les composants optiques et électroniques ; un porte-échantillon pour supporter l'échantillon, la ou les sources, le ou les détecteurs et le banc mécanique étant intégrés dans un module optoélectronique monolithique auquel peut être relié le porte-échantillon.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)