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1. (WO2008101702) ARRANGEMENT AND METHOD FOR THE ABSOLUTE DETERMINATION OF THE LINEAR POSITION OR THE ROTATIONAL POSITION EXPRESSED AS AN ANGLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/101702    International Application No.:    PCT/EP2008/001375
Publication Date: 28.08.2008 International Filing Date: 21.02.2008
IPC:
G01D 5/12 (2006.01)
Applicants: HL-PLANAR TECHNIK GMBH [DE/DE]; Hauert 13, 44227 Dortmund (DE) (For All Designated States Except US).
BARTOS, Axel [DE/DE]; (DE) (For US Only).
DETTMANN, Fritz [DE/DE]; (DE) (For US Only).
MEISENBERG, Armin [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: BARTOS, Axel; (DE).
DETTMANN, Fritz; (DE).
MEISENBERG, Armin; (DE)
Agent: KÖNIG, Reimar; Lohengrinstrasse 11, 40549 Düsseldorf (DE)
Priority Data:
10 2007 008 870.3 21.02.2007 DE
Title (DE) ANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR ABSOLUTBESTIMMUNG DER LINEARPOSITION ODER DER DURCH EINEN WINKEL AUSGEDRÜKTEN DREHPOSITION
(EN) ARRANGEMENT AND METHOD FOR THE ABSOLUTE DETERMINATION OF THE LINEAR POSITION OR THE ROTATIONAL POSITION EXPRESSED AS AN ANGLE
(FR) CONFIGURATION ET PROCÉDÉ POUR DÉTERMINATION ABSOLUE DE LA POSITION LINÉAIRE OU DE LA POSITION ROTATIVE EXPRIMÉE PAR UN ANGLE
Abstract: front page image
(DE)Es werden Absolutmesssysteme mit Maßstäben, bestehend aus Gruppen von mindestens zwei magnetischen Segmenten, beschrieben, wobei die Längen der magnetischen Seg mente in Messrichtung in mindestens einer Gruppe untereinander übereinstimmen und die Längen der magnetischen Segmente der unterschiedlichen Gruppen voneinander verschieden sind. Für Anordnungen mit mehr als zwei Sensoren an den einspurigen Maßstäben werden mehrstufige Phasendifferenzverfahren vorgeschlagen, die zu hohen Auflösungen und Messgenauigkeiten bei großen Messlängen führen und beispielsweise mit anisotrop magnetoresistiven Sensoren einen eindeutigen Winkelmessbereich von 360° ermöglichen. Das Wesen der Erfindung ist am besten der Fig. 6a zu entnehmen.
(EN)Disclosed are absolute measuring systems comprising measuring rods that are composed of groups of at least two magnetic segments. The magnetic segments of at least one group have the same length in the direction of measurement while the magnetic segments of the different groups have different lengths. For arrangements encompassing more than two sensors on the single-track measuring rods, multistage phase difference processes are disclosed which result in high resolutions and accurate measurements while allowing for great measured lengths and, when anisotropic magnetoresistive sensors are used, for example, an unambiguous angle measurement range of 360°. Figure 6a best represents the essence of the invention.
(FR)L'invention concerne des systèmes de mesure absolue comprenant des échelles composées de groupes d'au moins deux segments magnétiques, les longueurs des segments magnétiques coïncidant les unes avec les autres dans au moins un groupe dans le sens de mesure et les longueurs des segments magnétiques des divers groupes étant différentes. Il est prévu pour des configurations de plus de deux capteurs au niveau des échelles à une piste, des procédés de déphasage à plusieurs étapes, qui permettent de parvenir à des résolutions et à des précisions de mesure élevées dans le cas de longueurs de mesure importantes et permettent par exemple d'obtenir une plage de mesure angulaire univoque de 360° avec des détecteurs à magnétorésistance anisotrope. La figure 6a illustre le mieux l'essence de l'invention.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)