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1. (WO2008100914) SMALL SPOT X-RAY FLUORESCENCE (XRF) ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/100914    International Application No.:    PCT/US2008/053691
Publication Date: 21.08.2008 International Filing Date: 12.02.2008
IPC:
G01N 23/223 (2006.01)
Applicants: THERMO NITON ANALYZERS LLC [US/US]; 900 Middlesex Turnpike, Building 8, Billerica, MA 01821 (US) (For All Designated States Except US).
PIOREK, Stanislaw [US/US]; (US) (For US Only).
DUGAS, Michael, E. [US/US]; (US) (For US Only).
ESTABROOKS, Paul [US/US]; (US) (For US Only).
GRODZINS, Lee [US/US]; (US) (For US Only).
HAMILTON, Mark [US/US]; (US) (For US Only).
MARTIN, Kenneth, P. [US/US]; (US) (For US Only).
SREETHARAN, Pratheev [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: PIOREK, Stanislaw; (US).
DUGAS, Michael, E.; (US).
ESTABROOKS, Paul; (US).
GRODZINS, Lee; (US).
HAMILTON, Mark; (US).
MARTIN, Kenneth, P.; (US).
SREETHARAN, Pratheev; (US)
Agent: KATZ, Charles,; Thermo Fisher Scientific Inc., 355 River Oaks Parkway, San Jose, CA 95134 (US)
Priority Data:
60/889,465 12.02.2007 US
Title (EN) SMALL SPOT X-RAY FLUORESCENCE (XRF) ANALYZER
(FR) ANALYSEUR PAR FLUORESCENCE X (XRF) À SPOT DE PETITE DIMENSION
Abstract: front page image
(EN)A hand-held, self-contained x-ray fluorescence (XRF) analyzer (200) produces a small x-ray spot on a sample (604) to interrogate the elemental composition of a sample (604) region of millimeter-size characteristic dimension. The analyzer (200) includes an x-ray source for aiming an x-ray beam (304) toward a desired location on the sample (604). The analyzer (200) may include a digital camera (316) oriented toward the portion of the sample (604) that is, or would be, interrogated by the x-ray spot to facilitate aiming the analyzer (200). The analyzer may generate a reticule (908, 910) in a displayed image to indicate the portion of the sample (604) that is, or would be, illuminated by the x-ray beam (304). The analyzer (200) may include a detector collimator (1200) positioned along a light path between the spot and the detector (314). The analyzer (200) may include a chamber through which the beam (304) and the response signal (312) pass and a coupling for receiving an end of a purge gas tank (2502) for providing a purge gas to the chamber. The analyzer (200) may include a sensor operative to detect an amount of ambient gas present in the chamber. A calibration target (2200) and method (2300-2308) are disclosed for calibrating a location of a reticule in the analyzer (200).
(FR)L'invention concerne un analyseur (200) par fluorescence X (XRF) autonome portatif produisant un spot de rayons X de petite dimension sur un échantillon (604) dans le but d'interroger la composition élémentaire d'une région de l'échantillon (604) d'une dimension caractéristique millimétrique. L'analyseur (200) comprend une source de rayons X destinée à projeter un faisceau (304) de rayons X sur un emplacement souhaité de l'échantillon (604). L'analyseur (200) peut comprendre une caméra numérique (316) orientée vers la partie de l'échantillon (604) qui est, ou pourrait être, interrogée par le spot de rayons X de façon à faciliter le pointage de l'analyseur (200). L'analyseur (200) peut former un réticule (908, 910) dans une image affichée dans le but d'indiquer la partie de l'échantillon (604) qui est, ou pourrait être, illuminée par le faisceau (304) de rayons X. L'analyseur (200) peut comprendre un collimateur (1200) de détecteur placé dans le trajet lumineux allant du spot à un détecteur (314). L'analyseur (200) peut comporter une chambre traversée par le faisceau (304) et un signal de réponse (312), ainsi qu'un raccord destiné à recevoir une extrémité d'un réservoir (2502) de gaz de purge conçu pour introduire un gaz de purge dans la chambre. L'analyseur (200) peut comporter un capteur servant à détecter une quantité de gaz ambiant présent dans la chambre. L'invention concerne également une cible de calibrage (2200) et un procédé (2300-2308) de calibrage d'une position d'un réticule dans l'analyseur (200).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)