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1. (WO2008100318) CURRENT-BASED METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING AND CLASSIFYING ARCS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/100318    International Application No.:    PCT/US2007/064248
Publication Date: 21.08.2008 International Filing Date: 16.03.2007
IPC:
H01J 37/32 (2006.01), H01J 37/34 (2006.01)
Applicants: SCHNEIDER AUTOMATION INC. [US/US]; One High Street, North Andover, MA 01845 (US) (For All Designated States Except US).
KRAUSS, Alan, F. [US/US]; (US) (For US Only).
HARRIS, Raymond, W. [US/US]; (US) (For US Only).
BUDA, Paul, R. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: KRAUSS, Alan, F.; (US).
HARRIS, Raymond, W.; (US).
BUDA, Paul, R.; (US)
Agent: BOEHM, Douglas, A.; Schneider Electric NAOD, Legal Dept. - I.P. Group, 1415 South Roselle Road, Palatine, IL 60067 (US)
Priority Data:
60/783,346 17.03.2006 US
10/121,445 12.04.2002 US (IA Considered Withdrawn 13.06.2008)
10/769,023 30.01.2004 US (IA Considered Withdrawn 13.06.2008)
Title (EN) CURRENT-BASED METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING AND CLASSIFYING ARCS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL BASÉ SUR LE COURANT POUR LA DÉTECTION ET LA CLASSIFICATION D'ARCS
Abstract: front page image
(EN)An apparatus and technique are provided for generating a plasma using a power supply circuit and arc detection arrangement. The power supply circuit has a cathode enclosed in a chamber, and is adapted to generate a power-related parameter. The arc detection arrangement is communicatively coupled to the power supply circuit and adapted to assess the severity of arcing in the chamber by comparing the power-related parameter to at least one threshold. According to various implementations, arc occurrences, arcing duration, intensity and/or energy are measured responsive to comparing the power-related parameter to the at least one threshold. According to further implementations, the above-mentioned measured quantities are accumulated and/or further processed. An apparatus and method are also provided for detecting arc events when the current spikes above a threshold level. The method and apparatus is also for classifying the arc events based on the voltage and current signals and the duration each is beyond a threshold value.
(FR)L'invention concerne un appareil et une technique destinées à générer un plasma en utilisant un circuit d'alimentation et un agencement de détection d'arcs. Le circuit d'alimentation comporte une cathode enfermée dans une chambre et est conçu pour générer un paramètre relatif à la puissance. L'agencement de détection d'arcs est couplé en communication au circuit d'alimentation et conçu pour évaluer la gravité de la formation d'arcs dans la chambre par une comparaison du paramètre associé à la puissance à au moins un seuil. En fonction de diverses mises en œuvre, les occurrences d'arcs, la durée de formation d'arcs, l'intensité et/ou l'énergie sont mesurées en réaction à la comparaison du paramètre relatif à la puissance au(x) seuil(s). Selon d'autres mises en œuvre, les quantités mesurées précitées sont accumulées et/ou davantage traitées. L'invention concerne également un appareil et un procédé pour détecter des événements d'arcs lorsque le courant subit des pics au-dessus d'un niveau seuil. Le procédé et l'appareil sont également destinés à classer les événements d'arcs d'après les signaux de tension et d'intensité et la durée de chacun d'entre eux est au-delà d'une valeur seuil.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)