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1. (WO2008098826) METHOD FOR DETERMINING MEASURING POINTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/098826    International Application No.:    PCT/EP2008/050880
Publication Date: 21.08.2008 International Filing Date: 25.01.2008
IPC:
G01B 21/04 (2006.01)
Applicants: KUKA ROBOTER GMBH [DE/DE]; Zugspitzstrasse 140, 86165 Augsburg (DE) (For All Designated States Except US).
SEDLMAYR, Andreas [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: SEDLMAYR, Andreas; (DE)
Agent: HASSA, Oliver; Friedrichstrasse 31, 80801 München (DE)
Priority Data:
10 2007 007 574.1 15.02.2007 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUM ERMITTELN VON MESSSTELLEN
(EN) METHOD FOR DETERMINING MEASURING POINTS
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE POINTS DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln von Messstellen (21-26) an einem physikalischen Objekt (9). Zunächst werden mehreren Messstellen (21-24) des Objekts (9) in einem grafischen Rechnermodell (20) des Objekts (9) solange ausgewählt, bis genügend Messstellen (21-24) ausgewählt sind, um die Lage des Objekts (9) bezuglich eines Bezugskoordinatensystems zu ermitteln. Danach wird eine weitere Messstelle (25, 26) des Objekts (9) im grafischen Rechnermodell (20) ausgewählt und automatische überprüft, ob durch die weitere Messstelle (25, 26) die Lage des Objekts (9) bezuglich des Bezugskoordinatensystem genauer bestimmbar ist. Ist dies der Fall, dann wird die weitere Messstelle (25, 26) berücksichtigt. Schließlich werden solange weitere Messstellen (25, 26) ausgewählt, bis die Lage des Objekts (9) besser als mit einer vorgegebenen Toleranz bestimmbar ist.
(EN)The invention relates to a method for determining measuring points (21-26) on a physical object (9). A plurality of measuring points (21-24) on the object (9) are first of all selected in a graphical computer model (20) of the object (9) until a sufficient number of measuring points (21-24) have been selected in order to determine the position of the object (9) relative to a reference coordinate system. A further measuring point (25, 26) on the object (9) is then selected in the graphical computer model (20) and a check is automatically carried out in order to determine whether the further measuring point (25, 26) can determine the position of the object (9) relative to the reference coordinate system in a more accurate manner. If this is the case, the further measuring point (25, 26) is taken into account. Finally, further measuring points (25, 26) are selected until the position of the object (9) can be determined better than with a predefined tolerance.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination de points de mesure (21-26) sur un objet physique (9). Plusieurs points de mesure (21-24) de l'objet (9) sont d'abord choisis dans un modèle informatique graphique (20) de l'objet (9), jusqu'à sélection d'un nombre suffisant de points de mesure (21-24), afin de déterminer la position de l'objet (9) par rapport à un système de coordonnées de référence. Un autre point de mesure (25, 26) de l'objet (9) est ensuite choisi dans le modèle informatique graphique (20) et une vérification automatique est réalisée afin de vérifier si cet autre point de mesure (25, 26) permet de déterminer plus précisément la position de l'objet (9) par rapport au système de coordonnées de référence. L'autre point de mesure (25, 26) est pris en compte le cas échéant. D'autres points de mesure (25, 26) sont finalement choisis jusqu'à ce que la position de l'objet (9) puisse être déterminée mieux qu'avec une tolérance prédéfinie.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)