WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2008097751) DISTRIBUTING DATA AMONG TEST BOARDS TO DETERMINE TEST PARAMETERS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/097751    International Application No.:    PCT/US2008/052243
Publication Date: 14.08.2008 International Filing Date: 29.01.2008
IPC:
G01R 31/319 (2006.01), G09G 3/00 (2006.01)
Applicants: TERADYNE, INC. [US/US]; 700 Riverpark Drive, North Reading, Massachusetts 01864 (US) (For All Designated States Except US).
ZELLNER, Alexander [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BENAGH, Jeffrey S. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ZELLNER, Alexander; (DE).
BENAGH, Jeffrey S.; (US)
Agent: PYSHER, Paul A.; Fish & Richardson P.C., PO Box 1022, Minneapolis, MN 55440-1022 (US)
Priority Data:
11/670,750 02.02.2007 US
Title (EN) DISTRIBUTING DATA AMONG TEST BOARDS TO DETERMINE TEST PARAMETERS
(FR) RÉPARTITION DE DONNÉES PARMI DES CARTES D'ESSAI POUR DÉTERMINER DES PARAMÈTRES D'ESSAI
Abstract: front page image
(EN)A system for testing a liquid crystal display (LCD) driver includes multiple test boards, each which includes multiple channels that correspond to data channels of the LCD driver, a device interface board that acts as an interface between the multiple test boards and the LCD driver, a computing device configured to communicate with the multiple test boards, and one or more communications buses over which the computing device communicates with the multiple test boards. Each of the multiple test boards receives partial test data from data channels of the LCD driver, and processes the partial test data to obtain a partial result; and each of the multiple test boards shares a partial result determined from corresponding partial test data with one or more others of the multiple test boards.
(FR)L'invention concerne un système pour essayer un circuit d'attaque d'affichage à cristaux liquides (LCD) comprenant de multiples cartes d'essai, chacune comprenant de multiples canaux qui correspondent à des canaux de données du circuit d'attaque de LCD, une carte d'interface de dispositif qui agit en tant qu'interface entre les multiples cartes d'essai et le circuit d'attaque de LCD, un dispositif informatique configuré pour communiquer avec les multiples cartes d'essai, et un ou plusieurs bus de communication sur lesquels le dispositif informatique communique avec les multiples cartes d'essai. Chacune des multiples cartes d'essai reçoit des données d'essai partielles provenant de canaux de données du circuit d'attaque de LCD, et traite les données d'essai partielles pour obtenir un résultat partiel; et chacune des multiples cartes d'essai partage un résultat partiel déterminé à partir de données d'essai partielles correspondantes avec une ou plusieurs autres des multiples cartes d'essai.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)