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1. (WO2008095733) MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR DETERMINING GEOMETRIC PROPERTIES OF PROFILED ELEMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2008/095733    International Application No.:    PCT/EP2008/001007
Publication Date: 14.08.2008 International Filing Date: 11.02.2008
IPC:
G01B 11/24 (2006.01)
Applicants: TEZET TECHNIK AG [CH/CH]; Ocostrasse 20, CH-5330 Bad Zurzach (CH) (For All Designated States Except US).
KNOBEL, Bruno [CH/CH]; (CH) (For US Only).
FINDEISEN, Charles [CH/CH]; (CH) (For US Only).
LEISTRITZ, Klaus [DE/CH]; (CH) (For US Only)
Inventors: KNOBEL, Bruno; (CH).
FINDEISEN, Charles; (CH).
LEISTRITZ, Klaus; (CH)
Agent: KÖNIG, Reimar; Lohengrinstr. 11, 40549 Düsseldorf (DE)
Priority Data:
10 2007 007 153.3 09.02.2007 DE
10 2007 033 966.8 19.07.2007 DE
Title (DE) MESSVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG GEOMETRISCHER EIGENSCHAFTEN VON PROFILEN
(EN) MEASURING INSTRUMENT AND METHOD FOR DETERMINING GEOMETRIC PROPERTIES OF PROFILED ELEMENTS
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE PROPRIÉTÉS GÉOMÉTRIQUES DE PROFILÉS
Abstract: front page image
(DE)Messvorrichtung zur Ermittlung geometrischer Eigenschaften eines Profiles mit - einer Vorrichtung, die mindestens einen ersten (7) und einen zweiten (8) Lichtstrahl erzeugt, wobei die Strahlenrichtung des ersten Lichtstrahls unterschiedlich zu der Strahlenrichtung des zweiten Lichtstrahls ist, - einer retroref lektierende Oberfläche (3), die relativ zur Lichtquelle so angeordnet ist, daß beide Lichtstrahlen zumindest teilweise auf die retroref lektierende Oberfläche auftreffen, einer Aufnahmevorrichtung (14), die die Lichtintensitätsverteilung zumindest eines Teils des von der retroref lektierenden Oberfläche reflektierten Lichtstrahls des ersten Lichtstrahls und zumindest eines Teils des von der/einer retroref lektierenden Oberfläche reflektierten Lichtstrahls des zweiten Lichtstrahls über deren Quererstreckung ermitteln kann.
(EN)Disclosed is a measuring instrument for determining geometric properties of a profiled element. Said measuring instrument comprises: - a device that generates at least one first light beam (7) and a second light beam (8), the direction of radiation of the first light beam being different from the direction of radiation of the second light beam; - a retroreflective surface (3) which is arranged in such a way relative to the light source that at least some of both light beams is incident on the retroreflective surface; and - a recording device (14) which can determine, across the transversal extension thereof, the light intensity distribution of at least some of the reflected light beam of the first light beam and at least some of the reflected light beam of the second light beam, the first light beam being reflected by the retroreflective surface and the second light beam being reflected by the/a retroreflective surface.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure qui sert à déterminer des propriétés géométriques d'un profilé et comprend : un dispositif qui produit au moins un premier (7) et un deuxième (8) faisceau lumineux, la direction du premier faisceau étant différente de celle du deuxième faisceau; une surface rétro-réfléchissante (3) disposée par rapport à la source de lumière de sorte que les deux faisceaux lumineux se rencontrent au moins en partie sur la surface rétroréfléchissante; un dispositif de réception (14) qui peut déterminer la répartition d'intensité lumineuse d'au moins une partie du faisceau lumineux résultant de la réflexion du premier faisceau lumineux sur la surface rétroréfléchissante et d'au moins une partie du faisceau lumineux résultant de la réflexion du deuxième faisceau lumineux sur la/une surface rétroréfléchissante sur son extension transversale.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)