(EN) A configurable ring oscillator is operated in a first configuration so that an oscillating signal passes from a first node to a second node through a first signal path. A first measurement of an operational characteristic is made. The ring oscillator is operated in a second configuration where an oscillating signal passes from the first node to the second node through a second signal path. A second measurement is made. The first and second measurements are used to determine a circuit simulator parameter. If the first path has little interconnect and the second path has substantial interconnect, then the effect on circuit operation due to interconnect loading can be isolated from the effects on circuit operation due to variations in transistor performance. If the first and second paths are laid out to be identical, then the first and second measurements are usable to determine a circuit simulator mismatch parameter.
(FR) La présente invention concerne un oscillateur à anneau configurable pouvant fonctionner sous une première configuration de sorte qu'un signal d'oscillation passe d'un premier nœud à un second via un premier parcours de signal. Une première mesure d'une caractéristique opérationnelle est réalisée. L'oscillateur d'anneau peut fonctionner sous une seconde configuration lorsqu'un signal d'oscillation passe du premier nœud au second via un second parcours de signal. Une seconde mesure est réalisée. La première et la seconde mesure sont utilisées pour déterminer un paramètre de simulateur de circuit. Si le premier parcours présente peu d'interconnexion et que le second possède une interconnexion importante, l'effet sur le fonctionnement du circuit du fait de la charge d'interconnexion peut être isolé des effets sur le fonctionnement du circuit du fait des variations des performances du transistor. Si les premier et second parcours sont identiques, la première et la seconde mesure peuvent être utilisées pour déterminer un paramètre de non-concordance du simulateur de circuit.