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1. WO2008021750 - CIRCUIT SIMULATOR PARAMETER EXTRACTION USING A CONFIGURABLE RING OSCILLATOR

Publication Number WO/2008/021750
Publication Date 21.02.2008
International Application No. PCT/US2007/075144
International Filing Date 03.08.2007
IPC
G06F 17/50 2006.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
50Computer-aided design
G01R 31/28 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
CPC
G06F 30/367
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
30Circuit design
36Circuit design at the analogue level
367Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods
Applicants
  • QUALCOMM Incorporated [US]/[US] (AllExceptUS)
  • BANG, David [US]/[US] (UsOnly)
  • JAYAPALAN, Jayakannan [IN]/[US] (UsOnly)
Inventors
  • BANG, David
  • JAYAPALAN, Jayakannan
Agents
  • BACHAND, Richard, A.
Priority Data
11/690,30023.03.2007US
60/836,78709.08.2006US
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) CIRCUIT SIMULATOR PARAMETER EXTRACTION USING A CONFIGURABLE RING OSCILLATOR
(FR) EXTRACTION DE PARAMÈTRE DE SIMULATEUR DE CIRCUIT UTILISANT UN OSCILLATEUR À ANNEAU CONFIGURABLE
Abstract
(EN)
A configurable ring oscillator is operated in a first configuration so that an oscillating signal passes from a first node to a second node through a first signal path. A first measurement of an operational characteristic is made. The ring oscillator is operated in a second configuration where an oscillating signal passes from the first node to the second node through a second signal path. A second measurement is made. The first and second measurements are used to determine a circuit simulator parameter. If the first path has little interconnect and the second path has substantial interconnect, then the effect on circuit operation due to interconnect loading can be isolated from the effects on circuit operation due to variations in transistor performance. If the first and second paths are laid out to be identical, then the first and second measurements are usable to determine a circuit simulator mismatch parameter.
(FR)
La présente invention concerne un oscillateur à anneau configurable pouvant fonctionner sous une première configuration de sorte qu'un signal d'oscillation passe d'un premier nœud à un second via un premier parcours de signal. Une première mesure d'une caractéristique opérationnelle est réalisée. L'oscillateur d'anneau peut fonctionner sous une seconde configuration lorsqu'un signal d'oscillation passe du premier nœud au second via un second parcours de signal. Une seconde mesure est réalisée. La première et la seconde mesure sont utilisées pour déterminer un paramètre de simulateur de circuit. Si le premier parcours présente peu d'interconnexion et que le second possède une interconnexion importante, l'effet sur le fonctionnement du circuit du fait de la charge d'interconnexion peut être isolé des effets sur le fonctionnement du circuit du fait des variations des performances du transistor. Si les premier et second parcours sont identiques, la première et la seconde mesure peuvent être utilisées pour déterminer un paramètre de non-concordance du simulateur de circuit.
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