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1. WO2008003796 - METHOD FOR USING AN ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Publication Number WO/2008/003796
Publication Date 10.01.2008
International Application No. PCT/ES2006/070096
International Filing Date 04.07.2006
IPC
G01Q 60/32 2010.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY
60Particular types of SPM or apparatus therefor; Essential components thereof
24AFM or apparatus therefor, e.g. AFM probes
32AC mode
G01Q 30/04 2010.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
04Display or data processing devices
CPC
G01Q 30/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
04Display or data processing devices
G01Q 60/34
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
32AC mode
34Tapping mode
Applicants
  • CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS [ES]/[ES] (AllExceptUS)
  • GARCIA GARCIA, Ricardo [ES]/[ES] (UsOnly)
  • RODRÍGUEZ LOZANO, José Luis [ES]/[ES] (UsOnly)
  • MARTÍNEZ CUADRADO, Nicolás F. [ES]/[ES] (UsOnly)
  • PATIL, Shivaprasad Vitthal [IN]/[ES] (UsOnly)
Inventors
  • GARCIA GARCIA, Ricardo
  • RODRÍGUEZ LOZANO, José Luis
  • MARTÍNEZ CUADRADO, Nicolás F.
  • PATIL, Shivaprasad Vitthal
Priority Data
Publication Language Spanish (ES)
Filing Language Spanish (ES)
Designated States
Title
(EN) METHOD FOR USING AN ATOMIC FORCE MICROSCOPE
(ES) MÉTODO DE UTILIZACIÓN DE UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATÓMICAS
(FR) PROCÉDÉ D'UTILISATION D'UN MICROSCOPE À FORCES ATOMIQUES
Abstract
(EN)
The invention relates to a method for using an atomic force microscope. The method consists of: exciting lower and upper natural vibration modes of a microlever (M) disposed on a sample; and analysing the variation in a variable of a first output signal (Aicos(ωit-&phis;i)) representative of the response of the microlever (M) to excitation of the lower mode with respect to the variation in a parameter influenced by a variable of a second output signal (Ajcos(ωjt-&phis;j)) representative of the response of the microlever (M) to the excitation of the upper mode, and/or analysing the variation in a variable of a second output signal (Ajcos(ωjt-&phis;j)) representative of the response of the microlever (M) to the excitation of the upper mode with respect to the variation in a parameter influenced by a variable in a first output signal (Aicos(ωit-&phis;i)) representative of the response of the microlever (M) to the excitation of the lower mode.
(ES)
Comprende excitar unos modos inferior y superior naturales de vibración de una micropalanca (M) dispuesta sobre una muestra, y: - analizar Ia variación de una variable de una primera señal de salida (Aicos(ωit-ϕi)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a dicha excitación del modo inferior, respecto a Ia variación de un parámetro influido por una variable de una segunda señal de salida (Ajcos(ωjt-ϕj)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a Ia excitación del modo superior, y/o - analizar Ia variación de una variable de una segunda señal de salida (Ajcos(ωjt-ϕj)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a Ia excitación del modo superior, respecto a Ia variación de un parámetro influido por una variable de una primera señal de salida (Aicos(ωit-ϕi)) representativa de Ia respuesta de Ia micropalanca (M) a Ia excitación del modo inferior.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'utilisation d'un microscope à forces atomiques. Ce procédé consiste à exciter des modes inférieur et supérieur naturels de vibration d'un microlevier (M) disposé sur un échantillon; et à analyser Ia variation d'une variable d'un premier signal de sortie (Aicos(ωit-ϕi)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode inférieur, par rapport à la variation d'un paramètre influencé par une variable d'un deuxième signal de sortie (Ajcos(ωjt-ϕj)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode supérieur; et/ou à analyser la variation d'une variable d'un deuxième signal de sortie (Ajcos(ωjt-ϕj)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode supérieur, par rapport à la variation d'un paramètre influencé par une variable d'un premier signal de sortie (Aicos(ωit-ϕi)) représentant Ia réponse du microlevier (M) à l'excitation du mode inférieur.
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau