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1. WO2007147000 - EXHAUSTIVE DIAGNOSIS OF BRIDGING DEFECTS IN AN INTEGRATED CIRCUIT

Publication Number WO/2007/147000
Publication Date 21.12.2007
International Application No. PCT/US2007/071117
International Filing Date 13.06.2007
IPC
G06F 17/50 2006.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
50Computer-aided design
CPC
G01R 31/2853
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2853Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections
G01R 31/3008
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
30Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
3004Current or voltage test
3008Quiescent current [IDDQ] test or leakage current test
Applicants
  • INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US]/[US] (AllExceptUS)
  • HEABERLIN, Douglas, C. [US]/[US] (UsOnly)
Inventors
  • HEABERLIN, Douglas, C.
Agents
  • LE STRANGE, Michael, J.
Priority Data
11/423,85413.06.2006US
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) EXHAUSTIVE DIAGNOSIS OF BRIDGING DEFECTS IN AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) diagnostic exhaustif de défauts de pontage dans un circuit intégré
Abstract
(EN)
A method, system and computer program product for diagnosing a bridging defect in an integrated circuit including multiple nodes (20) are disclosed. Quiescent power supply current (IDDQ) of the integrated circuit (IC) is measured (40) under multiple test vectors (30). Logic states of the nodes on the IC are also obtained (20) under the multiple test vectors (30). The nodes are partitioned (S3) into sets based on their logic states under low-current test vectors. Large sets are further divided into subsets ('state-count subsets') (S 5-1) based on the logic states of nodes under high-current test vectors. For large sets, explicit evaluation under the IDDQ bridge fault model is performed only on pairs of nodes belonging to subsets having complementary state counts (S5-2, S5-3), to save system resources in computation. Exhaustive diagnosis considering all pairs of nodes on the IC is thus feasibly achieved due to the saving of system resources.
(FR)
L'invention concerne un procédé, un système et un produit-programme informatique pour diagnostiquer un défaut de pontage dans un circuit intégré comprenant des nœuds multiples (20). Un courant d'alimentation électrique de repos (IDDQ) du circuit intégré (IC) est mesuré (40) dans des vecteurs d'essais multiples (30). Des états logiques des nœuds sur l'IC sont également obtenus (20) dans les vecteurs d'essais multiples (30). Les nœuds sont divisés (S3) en des ensembles sur la base de leurs états logiques dans des vecteurs d'essais de courant faible. Des ensembles importants sont divisés en outre en des sous-ensembles (' sous-ensembles de comptage d'état') (S 5-1) sur la base des états logiques des nœuds dans des vecteurs d'essais de courant élevé. Pour des ensembles importants, une évaluation explicite dans le modèle de défaut de pontage IDDQ est réalisée seulement sur des paires de nœuds appartenant à des sous-ensembles ayant des comptages d'état complémentaires (S5-2, S5-3), pour sauvegarder des ressources de système dans le calcul. Un diagnostic exhaustif considérant toutes les paires de nœuds sur l'IC est donc vraisemblablement obtenu grâce à la sauvegarde des ressources de système.
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