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1. WO2007145235 - ABNORMAL REGION DETECTING DEVICE AND ABNORMAL REGION DETECTING METHOD

Publication Number WO/2007/145235
Publication Date 21.12.2007
International Application No. PCT/JP2007/061871
International Filing Date 13.06.2007
IPC
G06T 7/00 2006.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
G01N 21/956 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws, defects or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
956Inspecting patterns on the surface of objects
CPC
G06K 9/522
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
KRECOGNITION OF DATA; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
9Methods or arrangements for reading or recognising printed or written characters or for recognising patterns, e.g. fingerprints
36Image preprocessing, i.e. processing the image information without deciding about the identity of the image
46Extraction of features or characteristics of the image
52by deriving mathematical or geometrical properties from the whole image
522Frequency domain transformation; Autocorrelation
G06K 9/6247
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
KRECOGNITION OF DATA; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
9Methods or arrangements for reading or recognising printed or written characters or for recognising patterns, e.g. fingerprints
62Methods or arrangements for recognition using electronic means
6217Design or setup of recognition systems and techniques; Extraction of features in feature space; Clustering techniques; Blind source separation
6232Extracting features by transforming the feature space, e.g. multidimensional scaling; Mappings, e.g. subspace methods
6247based on an approximation criterion, e.g. principal component analysis
G06T 2207/30141
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
2207Indexing scheme for image analysis or image enhancement
30Subject of image; Context of image processing
30108Industrial image inspection
30141Printed circuit board [PCB]
G06T 7/001
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
0002Inspection of images, e.g. flaw detection
0004Industrial image inspection
001using an image reference approach
Applicants
  • 独立行政法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 大津 展之 OTSU, Nobuyuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 南里 卓也 NANRI, Takuya [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventors
  • 大津 展之 OTSU, Nobuyuki
  • 南里 卓也 NANRI, Takuya
Priority Data
2006-16796116.06.2006JP
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) ABNORMAL REGION DETECTING DEVICE AND ABNORMAL REGION DETECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE RÉGION ANORMALE
(JA) 異常領域検出装置および異常領域検出方法
Abstract
(EN)
A high-speed general-purpose abnormal region detecting device for detecting presence/absence of an abnormality and its position with high accuracy by using the high-order local autocorrelation feature. The abnormal region detecting device comprises means for extracting feature data of each pixel from image data by high-order local autocorrelation, means for adding feature data on each pixel in a pixel group in a predetermined range including the pixel, means for computing an index indicating the abnormality of the feature data in comparison with the normality of a partial space exhibiting a normal region, means for judging if the region is abnormal or not on the basis of the index, and means for outputting the position of the pixel which is judged to be abnormal. A plurality of items of high order local autocorrelation feature data having different displacement widths may be extracted. The abnormal region detecting device may comprise means for determining a partial space representing a normal region depending on the main component vector by main component analysis scheme from the feature data. Abnormality judgment for each pixel is possible, and the position of an abnormal region can be accurately detected.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de détection de région anormale universel à grande vitesse pour détecter la présence/absence d'une anomalie et sa position avec une précision élevée en utilisant la caractéristique d'auto-corrélation locale d'ordre élevé. Le dispositif de détection de région anormale comprend des moyens pour extraire des données de caractéristiques de chaque pixel à partir des données d'image par auto-corrélation locale d'ordre élevé, des moyens pour additionner des données de caractéristiques sur chaque pixel dans un groupe de pixels dans une plage prédéterminée incluant le pixel, des moyens pour calculer un indice indiquant l'anomalie des données de caractéristiques en comparaison avec la normalité d'un espace partiel présentant une région normale, des moyens pour évaluer si la région est anormale ou non sur la base de l'indice, et des moyens pour transmettre la position du pixel dont on estime qu'elle est anormale. Une pluralité d'articles de données de caractéristiques d'auto-corrélation locale d'ordre élevé ayant diverses largeurs de déplacement peut être extraite. Le dispositif de détection de région anormale peut comprendre des moyens pour déterminer un espace partiel représentant une région normale en fonction du vecteur de composante principale par procédé d'analyse de la composante principale à partir des données de caractéristiques. L'évaluation d'une anomalie pour chaque pixel est possible, et la position d'une région anormale peut être détectée de manière précise.
(JA)
 高次局所自己相関特徴を用いて異常の有無と共にその位置を高い精度で検出できる高速かつ汎用的な異常領域検出装置を提供する。異常領域検出装置は、画像データから画素毎に高次局所自己相関によって特徴データを抽出する手段、画素毎に、その画素を含む所定の範囲の画素群について特徴データを加算する手段、正常領域を示す部分空間に対する特徴データの異常さを示す指標を計算する手段、指標に基づき異常判定する手段、異常と判定した画素位置を出力する手段とを備える。変位幅の異なる複数の高次局所自己相関特徴データを抽出してもよい。更に、特徴データから主成分分析手法により主成分ベクトルに基づく正常領域を示す部分空間を求める手段を備えていてもよい。画素対応に異常判定が可能であり、異常領域の位置を正確に検出可能である。
Also published as
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