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1. (WO2007097023) MASS ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/097023    International Application No.:    PCT/JP2006/303614
Publication Date: 30.08.2007 International Filing Date: 27.02.2006
IPC:
G01N 27/64 (2006.01)
Applicants: Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (For All Designated States Except US).
Inter-University Research Institute Corporation National Institutes of Natural Sciences [JP/JP]; 2-21-1 Osawa, Mitaka-shi Tokyo 1818588 (JP) (For All Designated States Except US).
OGAWA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SETOU, Mitsutoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: OGAWA, Kiyoshi; (JP).
SETOU, Mitsutoshi; (JP)
Agent: KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building 37, Motoakuozi-tyo Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku Kyoto-si Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
Title (EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)A sample plate (14) having a nanolevel fine concave-convex structure (14a) on its upper surface is provided. A sample (15) is deposited onto the upper surface by transfer. A laser beam concentrated to an irradiation diameter of not more than 50 μm is applied to the sample (15) to ionize a substance in a very small measurement region (15a) irradiated with the laser beam. The ionized substance is then mass-analyzed. An object area of mass analysis in a two-dimensional observed image of the sample (15) imaged by a CCD camera (23) is preset. In this case, a sample stage (13) is driven so that ionization is successively carried out in this area, and a two-dimensional substance distribution image having a high spatial resolution can be prepared based on signals having intensity corresponding to the very small measurement region (15a).
(FR)La présente invention concerne une plaque d'échantillon (14) comportant une structure concave-convexe fine au nano-niveau sur sa surface supérieure. Un échantillon (15) est déposé sur la surface supérieure par transfert. Un faisceau laser concentré en un diamètre de rayonnement n'excédant pas 50 &mgr;m est appliqué à l'échantillon (15) pour ioniser une substance dans une très petite région de mesure (15a) irradiée avec le faisceau laser. La substance ionisée est ensuite analysée en masse. Une zone d'objet d'analyse de masse dans une image observée bidimensionnelle de l'échantillon (15) traité en tant qu'image par une caméra à dispositif à transfert de charge est préétablie. Dans ce cas, un étage pour échantillon (13) est commandé de manière à ce que l'ionisation soit effectuée avec succès dans cette zone, et une image de distribution de substance bidimensionnelle ayant une résolution spatiale élevée peut être préparée sur la base de signaux ayant une intensité correspondant à la très petite région de mesure (15a).
(JA) 上面がナノレベルの微細凹凸構造面14aである試料プレート14を用い、その上面に試料15を転写により付着させる。そして、この試料15に対し50μm以下の照射径に絞ったレーザー光を照射し、レーザー光が当たった微小測定領域15a内の物質をイオン化してこれを質量分析する。初めにCCDカメラ23で撮像された試料15の2次元観察画像の中で質量分析対象範囲を設定しておけば、その範囲内で順番にイオン化が行われるように試料ステージ13が駆動され、各微小測定領域15aに対応して得られた強度信号に基づいて、高い空間分解能の2次元物質分布画像を作成することができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)