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1. (WO2007097001) RAM DIAGNOSIS APPARATUS AND RAM DIAGNOSIS METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/097001    International Application No.:    PCT/JP2006/303485
Publication Date: 30.08.2007 International Filing Date: 24.02.2006
IPC:
G06F 12/16 (2006.01), G06F 12/08 (2006.01), G06F 12/10 (2006.01)
Applicants: FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome Nakahara-ku, Kawasaki-shi Kanagawa 2118588 (JP) (For All Designated States Except US).
KIYOTA, Naohiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KIYOTA, Naohiro; (JP)
Agent: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
Priority Data:
Title (EN) RAM DIAGNOSIS APPARATUS AND RAM DIAGNOSIS METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE DIAGNOSTIC RAM
(JA) RAM診断装置およびRAM診断方法
Abstract: front page image
(EN)To make a diagnosis of all the bits of a RAM in an easier manner at a higher rate regardless of the size of a main memory to be equipped. A bit generating part (110) generates a bit sequence in which a status bit has been added to an upper order of address bits indicative of the addresses of a tag RAM (200a). An increment part (140) increments the bit sequence of the bit generating part (110) by ones. A status selecting part (150) refers to the status bit to select any one of a plurality of processings, and instructs a write control part (160) or a read control part (170) to operate in accordance with the status. The write control part (160) writes in a line of the tag RAM (200a) corresponding to an address bit. The read control part (170) reads from a line of the tag RAM (200a) corresponding to an address bit, and causes the information of this line to be outputted to an error detecting part (180). The error detecting part (180) performs an error check of each line of the tag RAM (200a).
(FR)La présente invention permet de réaliser un diagnostic de tous les bits d'une RAM plus facilement, à un taux supérieur, quelle que soit la taille d'une mémoire principale à équiper. Une partie de génération de bit (110) génère une séquence de bit dans laquelle un bit de statut a été ajouté à un ordre supérieur de bits d'adresse indicateur des adresses d'une RAM de balises (200a). Une partie d'incrémentation (140) incrémente la séquence de bits de la partie de génération de bits (110) avec des uns. Une partie de sélection de statut (150) fait référence au bit de statut pour sélectionner l'un des traitements parmi une pluralité et demande à une partie de commande d'écriture (160) d'une partie de commande de lecture (170) de fonctionner conformément au statut. La partie de commande d'écriture (160) écrit dans une ligne de la RAM de balise (200a) correspondant à un bit d'adresse. La partie de commande de lecture (170) lit à partir d'une ligne de la RAM de balise (200a) correspondant à un bit d'adresse et amène les informations de cette ligne à être produites sur une partie de détection d'erreur (180). La section de détection d'erreur (180) réalise une vérification d'erreur de chaque ligne de la RAM de balises (200a).
(JA) 搭載されるメインメモリのサイズに関わらず、RAMの全ビットをより容易かつ高速に診断すること。ビット生成部(110)は、タグRAM(200a)のアドレスを示すアドレスビットの上位に状態ビットを付加したビット列を生成する。インクリメント部(140)は、ビット生成部(110)のビット列を1ずつインクリメントさせる。状態選択部(150)は、状態ビットを参照して複数の処理のいずれかを選択し、書込制御部(160)または読出制御部(170)へ状態に応じた動作を指示する。書込制御部(160)は、アドレスビットに対応するタグRAM(200a)のラインに書込処理を行う。読出制御部(170)は、アドレスビットに対応するタグRAM(200a)のラインから読み出し処理を行い、このラインの情報をエラー検出部(180)へ出力させる。エラー検出部(180)は、タグRAM(200a)の各ラインのエラーチェックを行う。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)