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1. (WO2007096240) METHOD FOR DETECTING OBJECTS WITH A PIVOTABLE SENSOR DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/096240    International Application No.:    PCT/EP2007/050980
Publication Date: 30.08.2007 International Filing Date: 01.02.2007
IPC:
G01S 17/93 (2006.01), G01S 13/93 (2006.01), G01S 13/88 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
POOK, Sebastian [DE/DE]; (DE) (For US Only).
SOIKA, Martin [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: POOK, Sebastian; (DE).
SOIKA, Martin; (DE)
Common
Representative:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, 80506 München (DE)
Priority Data:
10 2006 008 275.3 22.02.2006 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR DETEKTION VON OBJEKTEN MIT EINER SCHWENKBAREN SENSOREINRICHTUNG
(EN) METHOD FOR DETECTING OBJECTS WITH A PIVOTABLE SENSOR DEVICE
(FR) PROCEDE POUR LA DETECTION D'OBJETS AVEC UN DISPOSITIF PIVOTANT A CAPTEURS
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion von Objekten mit einer schwenkbaren, einen Scansensor (2) umfassenden Sensoreinrichtung (1), bei dem: a) der Scansensor (2) Detektionsstrahlen (LB) zur Detektion von Objekten in einem Scanbereich innerhalb einer Scanebene aussendet, wobei die Position der Scanebene durch Verschwenken der Sensoreinrichtung (1) in einem Schwenkbereich verändert wird, wodurch eine Vielzahl von Detektionsebenen entstehen; b) durch die Detektionsstrahlen (LB) in den Detektionsebenen Detektionspunkte von Objekten in der Umgebung der Sensoreinrichtung (1) detektiert werden; c) aus den Detektionspunkten einer jeweiligen Detektionsebene Linien (L1, L2, L3) extrahiert werden; d) die Schnittpunkte der Linien (L1, L2, L3) mit einer oder mehreren vorbestimmten Messebenen (M) als Messpunkte (P) ermittelt werden; e) die Messpunkte (P) in einer jeweiligen Messebene (M) in Blöcke (B1,..., B5) wie folgt einsortiert werden: für einen einzusortierenden Messpunkt (P) wird derjenige Messpunkt (P) ausgewählt, der von den in bereits vorhandenen Blöcken (B1,..., B5) enthaltenen und ein vorgegebenes Distanzkriterium erfüllenden Messpunkten (P) den kleinsten Abstand zum einzusortierenden Messpunkt (P) aufweist, wobei das vorgegebene Distanzkriterium für einen jeweiligen Messpunkt (P) in einem jeweiligen Block (B1,..., B5) erfüllt ist, wenn die Distanz des einzusortierenden Messpunkts (P) zu dem jeweiligen Messpunkt (P) kleiner als ein Distanzmaß ist, welches von der Distanz des jeweiligen Messpunkts (P) zu einem benachbarten Messpunkt (P) des jeweiligen Blocks (B1,..., B5) abhängt; der einzusortierende Messpunkt (P) wird benachbart zu dem ausgewählten Messpunkt (P) in dem Block (B1,..., B5) einsortiert, der den ausgewählten Messpunkt (P) enthält; f) blockweise aus den Messpunkten (P) der in Schritt e) erzeugten Blöcke (B1,..., B5) Linien (L1, L2, L3) extrahiert werden, wodurch Strukturen von Objekten in den Messebenen (M) ermittelt werden.
(EN)The invention relates to a method for detecting objects with a pivotable sensor device (1) which comprises a scan sensor (2), in which method: a) the scan sensor (2) emits detection beams (LB) for detecting objects in a scanning area within a scanning plane, wherein the position of the scanning plane is changed by pivoting the sensor device (1) in a scanning area, as a result of which a plurality of detection planes are produced; b) detection points of objects in the surroundings of the sensor device (1) are detected by means of the detection beams (LB) in the detection planes; c) lines (L1, L2, L3) are extracted from the detection points of a respective detection plane; d) the intersection points of the lines (L1, L2, L3) with one or more predetermined measuring planes (M) are determined as measuring points (P); e) the measuring points (P) in a respective measuring plane (M) are classified into blocks (B1, ..., B5) as follows: for a measuring point (P) which is to be classified the measuring point (P) which is selected from the measuring points (P) which are contained in already existing blocks (B1, ..., B5) and which meet a predefined distance criterion is the one which is at the smallest distance from the measuring point (P) to be classified, wherein the predetermined distance criterion for a respective measuring point (P) in a respective block (B1, ..., B5) is met if the distance of the measuring point (P) to be classified from the respective measuring point (P) is smaller than a distance measure which depends on the distance of the respective measuring point (P) from an adjacent measuring point (P) of the respective block (B1, ..., B5); the measuring point (P) to be classified is placed, adjacent to the selected measuring point (P), in the block (B1, ..., B5) which contains the selected measuring point (P); f) lines (L1, L2, L3) are extracted on a block basis from the measuring points (P) of the blocks (B1, ..., B5) generated in step e), as a result of which structures of objects in the measuring planes (M) are determined.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour la détection d'objets avec un dispositif pivotant à capteurs (1), comprenant un capteur de balayage (2) selon lequel : a) le capteur de balayage (2) émet des rayons de détection (LB) pour la détection d'objets dans une zone de balayage d'un plan de balayage, la position du plan de balayage étant modifiée par pivotement du dispositif à capteurs (1) dans une zone de pivotement, ce qui génère un grand nombre de plans de détection ; b) des rayons de détection (LB) détectent des points de détection d'objets dans les plans de détection dans l'environnement du dispositif à capteurs (1); c) des lignes (L1, L2, L3) sont extraites à partir des points de détection d'un plan de détection respectif; d) les points d'intersection des lignes (L1, L2, L3) sont déterminés en tant que points de mesure (P) avec un ou plusieurs plans de mesure prédéterminés (M); e) les points de mesure (P) dans un plan de mesure respectif (M) sont classés en blocs (B1,..., B5) comme suit : pour un point de mesure à classer (P), le point de mesure (P) sélectionné est celui qui présente la plus petite distance par rapport au point de mesure à classer (P) parmi les points de mesure (P) remplissant un critère de distance prédéterminé et contenus dans des blocs déjà existants (B1,..., B5), le critère de distance prédéterminé étant satisfait pour un point de mesure respectif (P) dans un bloc respectif (B1,..., B5) si la distance du point de mesure à classer (P) par rapport au point de mesure respectif (P) est inférieure à une mesure de distance qui dépend de la distance du point de mesure respectif (P) par rapport à un point de mesure voisin (P) du bloc respectif (B1,..., B5); le point de mesure à classer (P) est classé à proximité du point de mesure sélectionné (P) dans le bloc (B1,..., B5) qui contient le point de mesure sélectionné (P); f) des lignes (L1, L2, L3) sont extraites par bloc à partir des points de mesure (P) des blocs (B1,..., B5) générés dans l'étape e), ce qui détermine des structures d'objets dans des plans de mesure (M).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)