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1. (WO2007093437) TEST SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES USING A PIPELINED TESTING ARCHITECTURE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/093437    International Application No.:    PCT/EP2007/001376
Publication Date: 23.08.2007 International Filing Date: 16.02.2007
Chapter 2 Demand Filed:    07.12.2007    
IPC:
G01R 31/319 (2006.01)
Applicants: VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD. [SG/SG]; No. 1 Yishun Avenue 7, Lot 1937C, 1935X, 1975P, Singapore 768923 (SG) (For All Designated States Except US).
VOLKERINK, Erik H. [US/US]; (US) (For US Only).
DE LA PUENTE, Edmundo [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: VOLKERINK, Erik H.; (US).
DE LA PUENTE, Edmundo; (US)
Agent: SCHOPPE, Fritz; SCHOPPE, ZIMMERMANN, STÖCKELER & ZINKLER, Postfach 246, 82043 Pullach Bei München (DE)
Priority Data:
11/357,480 17.02.2006 US
Title (EN) TEST SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES USING A PIPELINED TESTING ARCHITECTURE
(FR) SYSTÈME DE TEST ET PROCÉDÉ POUR TESTER LES DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES FAISANT APPEL À UNE ARCHITECTURE PIPE-LINE
Abstract: front page image
(EN)A test system (100) for performing tests on devices under test (DUTs) (180) includes a storage device (140) storing test data (120) for performing the tests on the DUTs (180), a shared processor (110) for generating the test data (120), storing the test data (120) in the storage device (140) and generating a test control signal (125) including one or more test instructions for executing the tests, and, for each DUT (180), a dedicated processor (160) configured to receive a test control signal (125) from the shared processor (110), and in response to the test control signal (125), transfer the test data (120) for one of the test instructions to the DUT (180) to execute that test instruction and verify the completion of that test instruction.
(FR)L'invention concerne un système (100) de test pour effectuer des tests sur des dispositifs testés (DUT) (180). Ce système comprend une mémoire (140) dans laquelle sont stockées les données de test (120) permettant l'exécution des tests sur les DUT (180), un processeur partagé (110) qui génère les données de test (120), mémorise les données de test (120) dans la mémoire (140) et génère un signal de commande de test (125) comprenant une ou plusieurs instructions de test pour l'exécution des tests et, pour chaque DUT (180), un processeur spécifique (160) configuré pour recevoir un signal de commande de test (125) en provenance du processeur partagé (110), et pour transférer, en réponse au signal de commande de test (125), les données de test (120) correspondant à une des instructions de test vers le DUT (180) afin d'exécuter cette instruction de test, et de vérifier que cette instruction de test a été exécutée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)